[发明专利]一种X射线探测器及其制备方法在审
| 申请号： | 201910706450.5 | 申请日： | 2019-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN110308475A | 公开（公告）日： | 2019-10-08 |
| 发明（设计）人： | 王宗朋;杜碧 | 申请（专利权）人： | 深圳市安健科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 欧阳燕明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市高新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 感光层 闪烁体阵列 闪烁体层 基材 吸收率 空间分辨率 成像效果 单次曝光 独立耦合 辐射剂量 依次层叠 运动伪影 低辐射 信噪比 采样 荧光 制备 合成 图像 曝光 优化 | ||
1.一种X射线探测器，包括基材和至少两个闪烁体阵列，至少两个所述闪烁体阵列层叠于所述基材上，其特征在于：每个所述闪烁体阵列均包括从下至上依次层叠设置的第一感光层、闪烁体层和第二感光层。
2.根据权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：还包括滤过层，相邻两个所述闪烁体阵列之间设有所述滤过层。
3.根据权利要求2所述的X射线探测器，其特征在于：还包括中间衬底，所述中间衬底的顶部设有所述闪烁体阵列，中间衬底的底部与所述滤过层结合。
4.根据权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：厚度较大的所述闪烁体层位于厚度较小的所述闪烁体层的下方。
5.根据权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：还包括光学胶层，所述闪烁体层的上侧设有所述光学胶层。
6.一种X射线探测器的制备方法，包括权利要求1-5任一项所述的X射线探测器，其特征在于：还包括以下步骤，
S1、基材的上表面生成第一感光层；
S2、在步骤S1生成的第一感光层的上表面直接生成闪烁体层；
S3、在中间衬底的下表面通过磁控溅射生长滤过层；
S4、在步骤S3得到的滤过层的下表面生成第二感光层；
S5、在步骤S4生成的第二感光层与闪烁体层贴合；
S6、在中间衬底上依次层叠第一感光层、闪烁体层和第二感光层；
S7、在位于顶层的第二感光层上铺设金属反射层。
7.根据权利要求6所述的X射线探测器的制备方法，其特征在于：在步骤S7之前，重复步骤S3、S4和S5以制备多个层叠设置的滤过层、中间衬底和闪烁体阵列。
8.根据权利要求6所述的X射线探测器的制备方法，其特征在于：所述基材与第一感光层之间还设有所述金属反射层。
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