[发明专利]一种均热组件、温度校验仪及温度校验方法在审
| 申请号: | 201910679834.2 | 申请日: | 2019-07-26 |
| 公开(公告)号: | CN112304473A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
| 发明(设计)人: | 李学灿;高洪军;张春莹 | 申请(专利权)人: | 北京康斯特仪表科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 赵永丽;鲁兵 |
| 地址: | 100094 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 均热 组件 温度 校验 方法 | ||
本发明提供一种均热组件、温度校验仪及温度校验方法,用于对被检温度器件进行校验,该均热组件包括均热块和密封盖,该均热块设有用于容置被检温度器件的温包或感应端的盲孔,盲孔内填充有导热液,盲孔的开口端设有溢流槽,以承接盲孔中插入被检温度器件的温包或感应端时溢出的导热液。本发明通过在均热块上设置溢流槽配合填充有导热液体的盲孔,能够为被检温度器件的温包或感应端形成均衡的温度场,提高了检验精度;通过设置与均热块配套使用的密封盖,用于在校验完成后,防止盲孔中的液体泄漏,便于均热块的存放和携带;该温度校验仪通过设置均热组件,为被检温度器件的校验提供了均衡的温度场,适用于现场高精度校验被检温度器件。
技术领域
本发明属于温度校验技术领域,涉及一种均热组件、温度校验仪及温度校验方法。
背景技术
在很多工业应用场合,温度对设备的工作运行具有重要的影响,通常设置温度检测装置和/或温度控制器等来精确监测或控制设备的运行温度,有些应用场合对温度控制精度有严格要求,温度计或温度控制器长期使用后需要进行精度校验。例如电力系统的变压器压力式温度计的校验,由于校验现场分散在供电区域内的不同变电站,均送至实验室的恒温槽中进行校验不太现实,通常需要搬运笨重、大型的校验设备,实际的测试操作流程也比较复杂,校验效率低,应用不便。
迫切需要具有便携性和足够精度指标的温度校验仪满足现场温度校验的需求。由于各种温度计或温度控制器的温包/感应端的形状、尺寸各不相同,但便携式温度校验仪中用于容置温度计或温度控制器的温包/感应端的槽一般为固定尺寸,如何提供一个均衡的温度场,以满足各种类型的温包或感应端的传热性能,是一个挑战。
发明内容
本发明提供一种能够改善传热功能的均热组件。
本发明采用以下技术方案:
一种均热组件,用于对现场的被检温度器件进行校验,包括均热块(1),该均热块(1)设有用于容置被检温度器件的温包或感应端的盲孔(11),盲孔(11)内填充有导热液,盲孔(11)的开口端设有溢流槽(12),以承接盲孔中插入被检温度器件的温包或感应端时溢出的导热液。
上述均热组件中,所述溢流槽(12)设有两级,包括设置在盲孔(11)开口端的内侧壁上的第一溢流槽(121)和设置在盲孔(11)开口端上缘且开口向上的第二溢流槽(122)。
上述均热组件中,所述第一溢流槽(121)为环状凹槽,该凹槽的上部槽壁上对称设置有多个提拉孔(13),以便于将均热块(1)放入或提出温度校验仪的炉体;所述第二溢流槽(122)的容量大于第一溢流槽(121),第二溢流槽(122)的底面为盲孔(11)开口端上缘向外延伸形成。
上述均热组件中,所述均热块(1)为由高导热合金材料制成的柱状结构,均热块的盲孔(11)设有一个或多个,每一盲孔(11)对应设置有第一溢流槽(121),
所有的盲孔共用一个第二溢流槽(122)。
上述均热组件还包括一用于密封均热块(1)的盲孔开口端的密封盖(2),密封盖(2)包括一体成型的盖合部(21)和结合部(22),结合部(22)为中空结构,
结合部(22)的直径小于盖合部(21)的直径,结合部(22)的外径与均热块(1)的第二溢流槽(122)的内径相匹配。
上述均热组件中,所述结合部(22)的外周设有一环槽(221),该环槽中置入一O形圈(3)形成密封结构。
上述均热组件中,所述密封盖(2)的盖合部(21)上对称设有提拉槽(211),提拉槽(211)设有相连通的上开口和侧开口,形成便于提拉的结构,其与结合部(22)的空腔不导通。
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