[发明专利]一种电磁离合器平面度检测装置在审

专利信息
申请号: 201910619701.6 申请日: 2019-07-10
公开(公告)号: CN110220443A 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 杨景文;柯海森;李声亮;林子程;林建军;徐红伟 申请(专利权)人: 龙泉市中泰汽车空调有限公司;中国计量大学
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 323700 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 电磁离合器 传送机构 检测模块 装箱 平整度 上表面 检测 平面度检测装置 传送模块 传送 检测技术领域 上料机构 下料机构 检测台
【权利要求书】:

1.一种电磁离合器平面度检测装置,所述电磁离合器在厚度方向上设有凹槽,该电磁离合器包括第一上表面以及与所述第一上表面朝向一致的第二上表面,其特征在于,所述检测装置包括传送模块、检测模块和装箱模块,其中,

所述传送模块至少包括第一传送机构和第二传送机构,所述第一传送机构位于所述检测模块前端,将待检测电磁离合器传送至所述检测模块前,所述第二传送机构位于所述检测模块和所述装箱模块之间,将通过检测的电磁离合器从所述检测模块传送至所述装箱模块;

所述检测模块包括上料机构、检测台、第一检测机构、第二检测机构和下料机构,所述检测台绕中心旋转,该检测台上至少设有4个工位,用以放置待检测电磁离合器,其中有两个相邻的工位位于所述第一检测机构和第二检测机构下方,有一个工位位于上料机构的上料行程内,有一个工位位于下料机构的下料行程内,所述上料机构将所述待检测电磁离合器从所述第一传送机构运输至所述位于该上料行程内的工位上,所述下料机构将通过检测的电磁离合器从位于该下料行程内的工位上运输至所述第二传送机构;

所述第一检测机构检测待检测电磁离合器的所述第一上表面的平整度;

所述第二检测机构检测待检测电磁离合器的所述第二上表面的平整度;

第一上表面的平整度和第二上表面的平整度均合格的电磁离合器由所述第二传送机构传送至所述装箱模块进行装箱。

2.如权利要求1所述的电磁离合器平面度检测装置,其特征在于,所述第一传送机构包括第一传送带、设置于所述第一传送带上的第一护板和第一卡位机构,所述第一卡位机构具有V型结构,所述第一卡位机构的两端分别固定于所述第一传送带的两侧,并且靠近于所述检测台,所述第一卡位机构调整所述第一传送带上的待检测电磁离合器,使所述待检测电磁离合器的轴中心与所述上料机构对应的工位的轴心处于同一直线上。

3.如权利要求1所述的电磁离合器平面度检测装置,其特征在于,所述上料机构和/或下料机构包括第一滑动轨道、设置于所述第一滑动轨道上的第一底座、设置于所述第一底座上的L型支架、设置于所述L型支架的一端上的第一双轴气缸以及设置所述第一双轴气缸输出端上的第一电磁铁压头,所述第一电磁铁压头受所述第一双轴气缸驱动做竖直方向上运动。

4.如权利要求3所述的电磁离合器平面度检测装置,其特征在于,所述上料机构和/或下料机构还包括连接块、螺栓、弹簧,所述第一双轴气缸的下端通过所述连接块的上端的孔固定于连接块的上端,所述螺栓的一端穿过所述连接块下端的孔,所述螺栓的另一端固定在所述第一电磁铁压头的上端,所述弹簧套设于所述螺栓的外表面。

5.如权利要求1所述的电磁离合器平面度检测装置,其特征在于,所述每一个工位包括一凸柱,所述电磁离合器为一环形工件,所述凸柱插入所述电磁离合器的中空结构。

6.如权利要求1所述的电磁离合器平面度检测装置,其特征在于,所述第一检测机构包括第二底座、位于所述第二底座上的第一支撑轴、位于所述第一支撑轴的端部且与该第一支撑轴垂直设置的第一水平支架,所述第一水平支架和所述第一支撑轴之间通过第二双轴气缸连接,所述第一水平支架上设有第一测量表和第二电磁铁压头,所述第二电磁铁压头通过第一旋转电机固定在所述第一水平支架上,所述第二双轴气缸驱动所述第一水平支架在竖直方向上运动,所述第一水平支架在竖直方向上的运动行程至少与位于工位的待检测电磁离合器的第一上表面接触,且所述第一测量表的探头与所述第一上表面接触。

7.如权利要求1所述的电磁离合器平面度检测装置,其特征在于,所述第二检测机构包括第三底座、位于所述第三底座上的第二支撑轴、位于所述第二支撑轴的端部且与该第二支撑轴垂直设置的第二水平支架,所述第二水平支架和所述第二支撑轴之间通过第三双轴气缸连接,所述第二水平支架上设有第二测量表、第三电磁铁压头和驱动气缸,所述第三电磁铁压头通过第二旋转电机固定在所述第二水平支架上,所述第三双轴气缸驱动所述第二水平支架在竖直方向上运动,所述驱动气缸驱动所述第二测量表做倾斜运动,所述第二水平支架在竖直方向上的运动行程至少与位于工位的待检测电磁离合器的第二上表面接触,且所述第二测量表的探头与所述第二上表面接触。

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