[发明专利]一种平面标志物的位姿确定方法和装置在审
申请号: | 201910614830.6 | 申请日: | 2019-07-09 |
公开(公告)号: | CN112215884A | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 杨帅 | 申请(专利权)人: | 北京地平线机器人技术研发有限公司 |
主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70;G06T7/33 |
代理公司: | 北京嘉科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11687 | 代理人: | 杨波 |
地址: | 100086 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平面 标志 确定 方法 装置 | ||
1.一种平面标志物的位姿确定方法,包括:
获取至少一帧图像中的平面标志物;
获取所述平面标志物的顶点在像素坐标系的第一坐标;
根据所述平面标志物,获取平面标志物坐标系以及所述平面标志物的顶点在所述平面标志物坐标系的第二坐标;
根据所述第一坐标和所述第二坐标,获取经过优化的平面标志物位姿。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述根据所述第一坐标和所述第二坐标,获取经过优化的平面标志物位姿后,还包括:
根据经过优化的平面标志物位姿,获取所述平面标志物的顶点在世界坐标系的第三坐标。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,获取所述平面标志物的顶点在像素坐标系的第一坐标,包括:
确定所述平面标志物的种类,根据所述种类获取所述平面标志物在标志物数据库中的模板;
将所述平面标志物与所述模板的匹配,获取所述平面标志物的顶点;
获取所述顶点在像素坐标系的第一坐标。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述根据所述平面标志物,获取平面标志物坐标系以及所述平面标志物的顶点在所述平面标志物坐标系的第二坐标,包括:
根据所述平面标志物,获取平面标志物坐标系,所述平面标志物坐标系以所述平面标志物中的预设点为原点;
根据所述平面标志物坐标系,获取所述平面标志物的顶点在所述平面标志物坐标系的第二坐标。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述根据所述第一坐标和所述第二坐标,获取经过优化的平面标志物位姿,包括:
获取目标函数,所述目标函数为所述平面标志物各顶点对应的所述第一坐标与所述第二坐标重投影的像素坐标之间的距离之和;
调整所述平面标志物的位姿,以调整所述目标函数;
确定所述目标函数满足预设条件时的平面标志物位姿为经过优化的平面标志物位姿。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述第二坐标重投影的像素坐标根据所述相机的当前位姿和所述平面标志物的位姿获得。
7.根据权利要求5所述的方法,其中,所述预设条件包括所述目标函数取最小值;
或者,所述预设条件包括所述目标函数小于预设值。
8.根据权利要求1至7任一项所述的方法,其中,所述获取所述平面标志物的顶点在像素坐标系的第一坐标步骤和所述根据所述平面标志物,获取平面标志物坐标系以及所述平面标志物的顶点在所述平面标志物坐标系的第二坐标之间,还包括:
判断所述平面标志物的观测次数是否大于预设次数;
当所述平面标志物的观测次数大于所述预设次数时,则进入所述根据所述平面标志物,获取平面标志物坐标系以及所述平面标志物的顶点在所述平面标志物坐标系的第二坐标之间步骤。
9.一种平面标志物的位姿确定装置,包括:
标志物获取模块,用于获取至少一帧图像中的平面标志物;
第一坐标获取模块,用于获取所述标志物获取模块获取的平面标志物中顶点在像素坐标系的第一坐标;
第二坐标获取模块,用于获取平面标志物坐标系以及所述平面标志物的顶点在所述平面标志物坐标系的第二坐标;
位姿优化模块,用于根据第一坐标获取模块获取的第一坐标和所述第二坐标获取模块获取的第二坐标,获取经过优化的平面标志物位姿。
10.一种计算机可读存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序用于执行上述权利要求1至8任一所述的平面标志物的构建方法。
11.一种电子设备,所述电子设备包括:
处理器;
用于存储所述处理器可执行指令的存储器;
所述处理器,用于从所述存储器中读取所述可执行指令,并执行所述指令以实现上述权利要求1至8任一所述的平面标志物的构建方法。
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