[发明专利]光子到达探测器的参数计算方法、装置和计算机设备

说明书

本申请涉及一种光子到达探测器的参数计算方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取探测器采集到的光子模拟信号；所述光子模拟信号过阈触发之后，采集光子模拟信号中至少两个采样点的采样点信息；将至少两个所述采样点信息输入深度学习模型，得到相应光子到达探测器的参数。将光子模拟信号的采样点信息输入深度学习模型，得到光子到达探测的信息，避免了使用模数转换器，降低了探测器的成本，有效的缩短了信号处理时间，并降低了采样通道的死时间效应。

技术领域

本申请涉及医学成像技术领域，特别是涉及一种光子到达探测器的参数计算方法、装置和计算机设备。

背景技术

PET探测器能够实现对时间信息进行甄别，由精密的光学材料和电子器件组成，技术复杂，是多种高新技术的综合体。TOF(time of flight)技术是PET成像领域的重要技术之一，TOF技术能够提高PET诊断精度、缩短扫描时间，拓展了PET的临床应用，是未来PET发展的主要趋势之一。目前比较普遍性的针对前端探测器模拟信号进行处理的方式是通过模拟信号采样、过阈触发、AD转换、信号甄别、时间信息计算等步骤，从而得到该事件达到晶体的时间信息。

但目前的现有技术，通常使用恒比鉴相器进行信号甄别，对单一信号进行拆分、反转、延时等处理，获得两个同源信号，并通过与门进行加法计算，从而获得该事件达到晶体的时间信息。但是利用恒比鉴相器进行信号甄别，其电路设计复杂，时间信号的拆分、反转等操作需要进行特定的电路设计，并且探测器设计需要兼顾高计数性能，因此这种设计在一定程度上也会导致成本的上升。一般PET系统的的每个探测器单元对应一个采样通道，采样通道多达几百上千个，需要大量使用模数转换芯片，一方面增加了成本；另一方面模数转换芯片对于模拟信号的处理需要一定时间，会带来更大的死时间效应。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够减小成本并降低死时间效应的光子到达探测器的参数计算方法、装置和计算机设备方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种光子到达探测器的参数计算方法，所述方法包括：获取探测器采集到的光子模拟信号；所述光子模拟信号过阈触发之后，采集光子模拟信号中至少两个采样点的采样点信息；将至少两个所述采样点信息输入深度学习模型，得到相应光子到达探测器的参数。

在其中一个实施例中，所述光子到达探测器的参数包括：光子到达探测器的时间以及光子到达探测器的能量。

在其中一个实施例中，所述获取探测器采集到的光子模拟信号之前还包括：获取多个探测器采集到的光子模拟信号；根据多个探测器采集到的光子模拟信号，计算得到相应光子到达探测器的参数；将多个探测器采集到的光子模拟信号以及相应光子到达探测器的参数作为训练集，对训练集进行深度学习训练得到深度学习模型。

在其中一个实施例中，所述将多个探测器采集到的光子模拟信号以及相应光子到达探测器的参数作为训练集，对训练集进行深度学习训练得到深度学习模型包括：采集光子模拟信号中的至少两个采样点的采样点信息；将至少两个所述采样点信息以及相应光子到达探测器的参数作为训练集进行深度学习训练，得到深度学习模型。

在其中一个实施例中，所述采集光子模拟信号中的至少两个采样点的采样点信息包括：采集光子模拟信号上升沿中的至少两个采样点的采样点信息；或采集光子模拟信号下降沿中的至少两个采样点的采样点信息。

在其中一个实施例中，所述采样点信息包括：采样点的时间以及采样点的幅值。

在其中一个实施例中，所述根据多个探测器采集到的光子模拟信号，计算得到相应光子到达探测器的参数包括：所述光子模拟信号过阈触发之后，将所述光子模拟信号进行转换得到光子数字信号；根据所述光子数字信号，计算得到相应光子到达探测器的参数。