[发明专利]一种应用表面粗糙型陶瓷盘的晶圆下蜡方法有效
申请号: | 201910598991.0 | 申请日: | 2019-07-04 |
公开(公告)号: | CN110349867B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 王忠远;袁超;万远涛 | 申请(专利权)人: | 浙江光特科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52;H01L23/13;H01L23/15 |
代理公司: | 绍兴普华联合专利代理事务所(普通合伙) 33274 | 代理人: | 韩云涵 |
地址: | 312000 浙江省绍兴市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 应用 表面 粗糙 陶瓷 晶圆下蜡 方法 | ||
1.一种应用表面粗糙型陶瓷盘的晶圆下蜡方法,其特征在于:所述下蜡方法包括以下步骤:
1)提供一陶瓷盘,所述陶瓷盘用于晶圆上蜡工艺,所述陶瓷盘表面粗糙度为0.3;
2)晶圆上蜡研磨完成后,对所述陶瓷盘边缘进行清洁;
3)对所述陶瓷盘进行加热,使蜡融化,在蜡融化的同时往晶圆边缘四周涂蜡;
4)对所述陶瓷盘进行加热10分钟并对所述陶瓷盘的晶圆推动下蜡区进行涂蜡;
5)提供一推动件,使用所述推动件将晶圆从下蜡区轻轻推动下蜡。
2.如权利要求1所述的一种应用表面粗糙型陶瓷盘的晶圆下蜡方法,其特征在于:所述步骤3)中的所述陶瓷盘加热至80℃。
3.如权利要求1所述的一种应用表面粗糙型陶瓷盘的晶圆下蜡方法,其特征在于:所述步骤5)中的所述推动件为棉棒。
4.一种应用表面粗糙型陶瓷盘的晶圆下蜡方法,其特征在于:所述下蜡方法包括以下步骤:
1)提供一陶瓷盘,所述陶瓷盘用于晶圆上蜡工艺,所述陶瓷盘表面粗糙度为0.3;
2)晶圆上蜡研磨完成后,对所述陶瓷盘边缘进行清洁;
3)对所述陶瓷盘进行加热,使蜡融化;
4)提供一推动件,在所述陶瓷盘加热10分钟后,使用所述推动件轻轻推动晶圆,能推动即可进行下一步骤;
5)将所述陶瓷盘放置于水浴加热的去蜡液中,将晶圆背面朝下,在晶圆下放置一培养皿,用以晶圆下蜡脱离后接住晶圆;
6)每隔半小时取出所述陶瓷盘使用所述推动件轻轻推动晶圆,若轻松推动取下晶圆即可完成下蜡工序,若无法推动则继续浸泡并重复以上操作,在浸泡过程中会出现晶圆直接脱落于培养皿中完成下蜡工序的情况。
5.如权利要求4所述的一种应用表面粗糙型陶瓷盘的晶圆下蜡方法,其特征在于:所述步骤3)中的所述陶瓷盘加热至80℃。
6.如权利要求4所述的一种应用表面粗糙型陶瓷盘的晶圆下蜡方法,其特征在于:所述步骤4)和步骤6)中的所述推动件为棉棒。
7.如权利要求4所述的一种应用表面粗糙型陶瓷盘的晶圆下蜡方法,其特征在于:所述步骤5)中的水浴加热温度为80℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造