[发明专利]防止漏烧的数据烧写方法及其装置、数据烧写设备

权利要求书

1.一种防止漏烧的数据烧写方法，其特征在于，包括：

对两个或多个电路板进行数据烧写并校验；

在数据烧写校验通过的情况下，更新烧写成功的电路板数量；

在烧写成功的电路板数量与预设数量不一致的情况下，对烧写失败的电路板继续进行数据烧写并校验，直至烧写成功的电路板数量与所述预设数量一致。

2.根据权利要求1所述的数据烧写方法，其特征在于，对两个或多个电路板进行校验，包括：

检测电路板的烧写标志位；

根据所述烧写标志位的写入数据，校验所述电路板的已烧写数据。

3.根据权利要求2所述的数据烧写方法，其特征在于，根据所述烧写标志位的写入数据，校验所述电路板的已烧写数据，包括：

在所述烧写标志位的已写入数据为已烧写数据的版本号的情况下，获得待烧写数据的版本号；

在所述已烧写数据的版本号与所述待烧写数据的版本号一致的情况下，确定所述电路板的已烧写数据通过校验。

4.根据权利要求3所述的数据烧写方法，其特征在于，根据所述烧写标志位的写入数据，校验所述电路板的已烧写数据，还包括：

在所述烧写标志位的已写入数据不是已烧写数据的版本号的情况下，回读所述电路板的已烧写数据；

获得所述已烧写数据的校验值，作为第一校验值；

获得待烧写数据的校验值，作为第二校验值；

在所述第一校验值与所述第二校验值一致的情况下，确定所述电路板烧写成功。

5.根据权利要求4所述的数据烧写方法，其特征在于，

获得所述已烧写数据的校验值，作为第一校验值，包括：获得已烧写数据的校验值，以所述已烧写数据的校验值中特定位的值作为第一校验值；

获得待烧写数据的校验值，作为第二校验值，包括：获得待烧写数据的校验值，以所述待烧写数据的校验值中所述特定位的值作为第二校验值；

在所述第二校验值与所述第一校验值一致的情况下，确定所述电路板烧写成功。

6.根据权利要求5所述的数据烧写方法，其特征在于，所述特定位按照从低位到高位的顺序选取。

7.根据权利要求1至6任一项所述的数据烧写方法，其特征在于，对两个或多个电路板进行数据烧写之前，还包括：

向所述电路板烧写第一检测存储器参数，所述第一检测存储器参数为所述电路板在第一工作模式下的存储器参数；

根据所述第一检测存储器参数运行所述电路板；

在所述电路板正常工作的情况下，确定所述电路板的硬件功能检测通过。

8.根据权利要求7所述的数据烧写方法，其特征在于，在数据烧写校验通过的情况下，还包括：

利用所述电路板，总装电控总成；

利用第二检测存储器参数，检测所述电控总成的硬件功能；所述第二检测存储器参数为所述电路板在第二工作模式下的存储器参数。

9.一种防止漏烧的数据烧写装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，其特征在于，所述处理器被配置为在执行所述程序指令时，执行如权利要求1至8任一项所述的防止漏烧的数据烧写方法。

10.一种数据烧写设备，其特征在于，包括如权利要求9所述的防止漏烧的数据烧写装置。