[发明专利]一种光学模组测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种光学模组测试系统及方法，包括入射光准直模组、测试平台、接收光准直模组、采集装置以及处理器终端；处理器终端，用于控制入射光准直模组和接收光准直模组进行方向调节，使入射光准直模组发射的光束在经过放置于测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入接收光准直模组，并控制接收光准直模组依次移动至与待测光学模组中每个滤光片的分别对应的位置处，以使接收光准直模组依次接收经过相应的滤光片传输的光束；采集装置，用于采集接收光准直模组接收到的光信号，得到与每个滤光片一一对应的光学信息；处理器终端，还用于依据各个光学信息得到与待测光学模组对应的测试结果，本发明能够实现对多滤光片光学模组的测试。

技术领域

本发明实施例涉及光学技术领域，特别是涉及一种光学模组测试系统及方法。

背景技术

随着数据中心的高速发展，主流的通讯模块已从40G的模块升级为100G的模块或200G模块，在40G的模块中所有的光学模组中包括单个滤光片，而在100G或200G模块中所使用的光学模组中包括多个滤光片。光学模组产品生产完成后需要对光学模组的性能进行测试，以检验产品是否满足设计要求。但是，现有的光学模组测试系统只能测试单个滤光片的角度偏移和光功率损耗。不能实现对多滤光片光学模组的测试，如何对多滤光片光学模组进行测试成为本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种光学模组测试系统及方法，在使用过程中能够实现对多滤光片光学模组的测试。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种光学模组测试系统，包括入射光准直模组、测试平台、接收光准直模组、与所述接收光准直模组连接的采集装置以及与所述入射光准直模组的控制端、所述接收光准直模组的控制端及所述采集装置连接的处理器终端；其中：

所述处理器终端，用于控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组，并控制所述接收光准直模组依次移动至与所述待测光学模组中每个滤光片分别对应的位置处，以使所述接收光准直模组依次接收经过相应的滤光片传输的光束；

所述采集装置，用于采集所述接收光准直模组接收到的光信号，得到与每个所述滤光片一一对应的光学信息；

所述处理器终端，还用于依据各个所述光学信息得到与所述待测光学模组对应的测试结果。

可选的，所述入射光准直模组包括第一五维位移调节架、发射准直器和光源；其中：

所述发射准直器的输入端与所述光源连接，所述发射准直器的输出端发射的光束经过所述测试平台上的测试孔射入至所述待测光学模组的第一个滤光片上；

所述第一五维位移调节架的控制端与所述处理器终端连接，用于固定所述发射准直器，并在所述处理器终端的控制下对所述发射准直器的方向进行调节。

可选的，所述接收光准直模组包括第二五维位移调节架和接收准直器，其中：

所述第二五维位移调节架的控制端与所述处理器终端连接，用于固定所述接收准直器，并在所述处理器终端的控制下对所述接收准直器的方向和位置进行调节；

所述接收准直器的输入端用于接收所述待测光学模组中当前滤光片传输的光束，其输出端与所述采集装置连接。

可选的，所述采集装置包括分光器、光功率计和光谱分析仪；所述光学信息包括光功率及光谱信息。

可选的，所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组的过程为：

在将待测光学模组放置于所述测试平台上之前，对系统进行校准调节，并固定所述入射光准直模组的方向；