[发明专利]一种光学模组测试系统及方法

权利要求书

1.一种光学模组测试系统，其特征在于，包括入射光准直模组、测试平台、接收光准直模组、与所述接收光准直模组连接的采集装置以及与所述入射光准直模组的控制端、所述接收光准直模组的控制端及所述采集装置连接的处理器终端；其中：

所述处理器终端，用于控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组，并控制所述接收光准直模组依次移动至与所述待测光学模组中每个滤光片分别对应的位置处，以使所述接收光准直模组依次接收经过相应的滤光片传输的光束；

所述采集装置，用于采集所述接收光准直模组接收到的光信号，得到与每个所述滤光片一一对应的光学信息；

所述处理器终端，还用于依据各个所述光学信息得到与所述待测光学模组对应的测试结果；其中：

所述入射光准直模组包括第一五维位移调节架、发射准直器和光源；其中：

所述发射准直器的输入端与所述光源连接，所述发射准直器的输出端发射的光束经过所述测试平台上的测试孔射入至所述待测光学模组的第一个滤光片上；

所述第一五维位移调节架的控制端与所述处理器终端连接，用于固定所述发射准直器，并在所述处理器终端的控制下对所述发射准直器的方向进行调节；

所述接收光准直模组包括第二五维位移调节架和接收准直器，其中：

所述第二五维位移调节架的控制端与所述处理器终端连接，用于固定所述接收准直器，并在所述处理器终端的控制下对所述接收准直器的方向和位置进行调节；

所述接收准直器的输入端用于接收所述待测光学模组中当前滤光片传输的光束，其输出端与所述采集装置连接。

2.根据权利要求1所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述采集装置包括分光器、光功率计和光谱分析仪；所述光学信息包括光功率及光谱信息。

3.根据权利要求1至2任意一项所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组的过程为：

在将待测光学模组放置于所述测试平台上之前，对系统进行校准调节，并固定所述入射光准直模组的方向；

在将所述待测光学模组放置于所述测试平台后，对所述接收光准直模组进行方向和位置的调节，以使所述接收光准直模组移动至与待测光学模组中的第一个滤光片对应的位置处，且使所述入射光准直模组发射的光束经过所述第一个滤光片后以预设角度入射至所述接收光准直模组中。

4.根据权利要求3所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述对系统进行校准调节的过程为：

所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束经过所述测试平台上的测试孔后0度入射至所述接收光准直模组中，并使整个光路的光功率损耗最小。

5.根据权利要求1所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述待测光学模组包括四个滤光片。

6.根据权利要求3所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述预设角度为8度。

7.一种光学模组测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1至6任意一项所述的光学模组测试系统，所述方法包括：

控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组；

控制所述接收光准直模组依次移动至与所述待测光学模组中每个滤光片分别对应的位置处，以便控制所述采集装置依次采集与每个滤光片一一对应的光学信息；

根据各个所述光学信息得到与所述待测光学模组对应的测试结果。

8.根据权利要求7所述的光学模组测试方法，其特征在于，所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组的过程为：

在将待测光学模组放置于所述测试平台上之前，对系统进行校准调节，并固定所述入射光准直模组的方向；

在将所述待测光学模组放置于所述测试平台后，对所述接收光准直模组进行方向和位置的调节，以使所述接收光准直模组移动至与待测光学模组中的第一个滤光片对应的位置处，且使所述入射光准直模组发射的光束经过所述第一个滤光片后以预设角度入射至所述接收光准直模组中。