[发明专利]一种性能测试方法、电子设备及存储介质

说明书

本发明实施例提供一种性能测试方法、电子设备及存储介质，用于解决通过测试缓存的性能来确定硬盘的性能，以致降低了硬盘性能测试的准确性的问题，该方法应用于设置有硬盘的电子设备，硬盘包括缓存和物理存储介质，包括：确定通过缓存对物理存储介质的读写速度得到第一读写速度；根据第一读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度；确定对物理存储介质的顺序写速度得到第一写速度；根据第一写速度确定硬盘的最大写速度；确定对物理存储介质的顺序读速度得到第一读速度；根据第一读速度确定硬盘的最大读速度；确定对物理存储介质的随机读写速度得到第二读写速度；根据第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。可以提高性能测试的准确性。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种性能测试方法、电子设备及存储介质。

背景技术

硬盘是计算机、手机等电子设备的重要组成部分，因此，保证电子设备的硬盘具有良好的性能非常重要。由于不同规格的硬盘对应的缓存(cache)不同，因此，可以通过测试不同的缓存来测试不同硬盘的性能。然而，虽然不同规格的硬盘具有不同的缓存，但缓存不等同于硬盘，缓存的性能也不等同于硬盘的性能，以致降低了硬盘性能测试的准确性。

发明内容

本发明实施例提供一种性能测试方法、电子设备及存储介质，用于解决通过测试缓存的性能来确定硬盘的性能，以致降低了硬盘性能测试的准确性的问题。

第一方面提供一种性能测试方法，所述方法应用于设置有硬盘的电子设备，所述硬盘包括缓存和物理存储介质，包括：

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度；

根据所述第一读写速度确定所述硬盘对应用程序的读写速度；

确定对所述物理存储介质的顺序写速度，得到第一写速度；

根据所述第一写速度确定所述硬盘的最大写速度；

确定对所述物理存储介质的顺序读速度，得到第一读速度；

根据所述第一读速度确定所述硬盘的最大读速度；

确定对所述物理存储介质的随机读写速度，得到第二读写速度；

根据所述第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。

作为一种可能的实施方式，所述确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度包括：

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机写速度，得到第二写速度；

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机读速度，得到第二读速度；

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序写速度，得到第三写速度；

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序读速度，得到第三读速度；

根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度。

作为一种可能的实施方式，所述根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度包括：

将所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度的加权平均确定为通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度。

作为一种可能的实施方式，所述确定对所述物理存储介质的随机读写速度，得到第二读写速度包括：

确定对所述物理存储介质的随机写速度，得到第四写速度；

确定对所述物理存储介质的随机读速度，得到第四读速度；