[发明专利]一种性能测试方法、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种性能测试方法，其特征在于，所述方法应用于设置有硬盘的电子设备，所述硬盘包括缓存和物理存储介质，包括：

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度；

根据所述第一读写速度确定所述硬盘对应用程序的读写速度；

关闭所述缓存以使所述缓存不可用，确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的顺序写速度，得到第一写速度，所述顺序写速度为写入一个数据，写完这个数据之后在这个数据的存储地址之后接着写入下一个数据的速度；

根据所述第一写速度确定所述硬盘的最大写速度；

确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的顺序读速度，得到第一读速度，所述顺序读速度为读取一个数据，读完这个数据之后在这个数据的存储地址之后接着读下一个数据的速度；

根据所述第一读速度确定所述硬盘的最大读速度；

确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的随机读写速度，得到第二读写速度；根据所述第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度包括：

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机写速度，得到第二写速度；

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机读速度，得到第二读速度；

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序写速度，得到第三写速度；

确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序读速度，得到第三读速度；

根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度包括：

将所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度的加权平均确定为通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定对所述物理存储介质的随机读写速度，得到第二读写速度包括：

确定对所述物理存储介质的随机写速度，得到第四写速度；

确定对所述物理存储介质的随机读速度，得到第四读速度；

根据所述第四写速度和所述第四读速度确定对所述物理存储介质的随机读写速度，得到第二读写速度。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的顺序写速度，得到第一写速度包括：

将第一数据集合中的数据顺序写入所述物理存储介质；

将所述第一数据集合的写入速度确定为对所述物理存储介质的顺序写速度，得到第一写速度；

所述确定对所述物理存储介质的顺序读速度，得到第一读速度包括：

从所述物理存储介质中顺序读取所述第一数据集合中的数据；

将所述第一数据集合的读取速度确定为对所述物理存储介质的顺序读速度，得到第一读速度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述硬盘对应用程序的读写速度、所述硬盘的最大写速度、所述硬盘的最大读速度以及所述文件系统分配地址和寻找地址的能力，生成测试报告；

输出所述测试报告。