[发明专利]一种电致发光阵列基板的检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种电致发光阵列基板的检测方法及装置，通过控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区，相当于使驱动晶体管形成导线，以直接将阳极与第一电源信号端导通，从而使阳极上的电压可以稳定为第一电源信号端的电压，进而可以避免由于驱动晶体管的阈值电压Vth的漂移对阳极上电压的干扰。并且，通过对电致发光阵列基板进行光照，可以得到各子像素对应的第一检测数值。由于阳极上存在油污、颗粒等杂质时与阳极上不存在油污、颗粒等杂质时，穿过电致发光阵列基板的光强不同，这样使得第一检测数值也会不同，因此至少根据各子像素对应的第一检测数值，可以确定出电致发光阵列基板是否存在不良，以将不良检测出。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种电致发光阵列基板的检测方法及装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)、量子点发光二极管(Quantum Dot Light Emitting Diodes，QLED)等电致发光二极管具有自发光、低能耗等优点，广泛应用于显示领域中。

如图1所示，电致发光显示面板可以包括电致发光阵列基板。电致发光阵列基板可以包括：衬底基板100以及位于衬底基板100上的多个子像素110。子像素110包括电致发光二极管111以及用于驱动电致发光二极管发光的像素驱动电路112。其中，电致发光二极管111包括层叠设置的阳极01、发光层02以及阴极03。在制备电致发光阵列基板的过程中，一般先在衬底基板100上形成像素驱动电路112，之后在像素驱动电路112上形成绝缘层120，之后在绝缘层120上依次形成阳极01、发光层02以及阴极03，从而形成电致发光二极管111。

然而，由于工艺条件的限制，在制备阳极01时，若不同位置处的阳极01上出现油污、颗粒等杂质时，在对电致发光阵列基板进行点灯测试时，电致发光阵列基板可能会出现显示不均匀的光学不良问题。因此，如何对电致发光阵列基板进行光学不良问题的检测，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种电致发光阵列基板的检测方法及装置，用以检测电致发光阵列基板的光学不良问题。

本发明实施例提供了一种电致发光阵列基板的检测方法，所述电致发光阵列基板包括：衬底基板，位于所述衬底基板上的多个子像素，各所述子像素包括：像素驱动电路，位于所述像素驱动电路背离所述衬底基板一侧的绝缘层，以及位于所述绝缘层背离所述衬底基板一侧的阳极；

所述检测方法包括：

控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区；

控制光源对所述电致发光阵列基板进行光照，采集透过所述电致发光阵列基板各所述子像素的光，并将采集到的光信号转换为各所述子像素对应的第一检测数值；

至少根据各所述子像素对应的所述第一检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在不良。

可选地，在本发明实施例中，所述至少根据各所述子像素对应的所述第一检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在不良，包括：

确定各所述子像素对应的第一检测数值与预设检测数值之间的第一差值；

在至少一个所述第一差值不满足第一差值阈值时，确定所述电致发光阵列基板存在光学不良。

可选地，在本发明实施例中，所述控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区，包括：

依次驱动每一行子像素；其中，在驱动一行子像素时，对所述行中的各所述像素驱动电路的数据信号端加载具有第一电压的数据信号，对所述行中的各所述像素驱动电路的第一扫描信号端加载第一扫描信号，对所述行中的各所述像素驱动电路的第二扫描信号端加载截止信号，对像素驱动电路的第一电源信号端加载第一电源电压信号。