[发明专利]一种电致发光阵列基板的检测方法及装置

权利要求书

1.一种电致发光阵列基板的检测方法，其特征在于，所述电致发光阵列基板包括：衬底基板，位于所述衬底基板上的多个子像素，各所述子像素包括：像素驱动电路，位于所述像素驱动电路背离所述衬底基板一侧的绝缘层，以及位于所述绝缘层背离所述衬底基板一侧的阳极；

所述检测方法包括：

控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区；

控制光源对所述电致发光阵列基板进行光照，采集透过所述电致发光阵列基板各所述子像素的光，并将采集到的光信号转换为各所述子像素对应的第一检测数值；

至少根据各所述子像素对应的所述第一检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在不良。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述至少根据各所述子像素对应的所述第一检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在不良，包括：

确定各所述子像素对应的第一检测数值与预设检测数值之间的第一差值；

在至少一个所述第一差值不满足第一差值阈值时，确定所述电致发光阵列基板存在光学不良。

3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区，包括：

依次驱动每一行子像素；其中，在驱动一行子像素时，对所述行中的各所述像素驱动电路的数据信号端加载具有第一电压的数据信号，对所述行中的各所述像素驱动电路的第一扫描信号端加载第一扫描信号，对所述行中的各所述像素驱动电路的第二扫描信号端加载截止信号，对像素驱动电路的第一电源信号端加载第一电源电压信号。

4.如权利要求1-3任一项所述的检测方法，其特征在于，在所述控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区；控制光源对所述电致发光阵列基板进行光照，采集透过所述电致发光阵列基板各所述子像素的光，并将采集到的光信号转换为各所述子像素对应的第一检测数值之前或之后，还包括：

控制各子像素中的驱动晶体管工作于饱和区；

采用所述光源对所述电致发光阵列基板进行光照，并采集透过所述电致发光阵列基板各所述子像素的光，以及将采集到的光信号转换为各所述子像素对应的第二检测数值；

所述至少根据各所述子像素对应的所述第一检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在不良，包括：

根据各所述子像素对应的所述第一检测数值和所述第二检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在电学不良。

5.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述根据各所述子像素对应的所述第一检测数值和所述第二检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在电学不良，包括：

针对各所述子像素，确定同一所述子像素对应的第一检测数值和第二检测数值之间的第二差值；

在至少一个所述第二差值不满足第二差值阈值时，确定所述电致发光阵列基板存在电学不良。

6.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于饱和区，包括：

依次驱动每一行子像素；其中，在驱动一行子像素时，对所述行中的各所述像素驱动电路的数据信号端加载具有第二电压的数据信号，对所述行中的各所述像素驱动电路的第一扫描信号端加载第一扫描信号，对所述行中的各所述像素驱动电路的第二扫描信号端加载截止信号，对像素驱动电路的第一电源信号端加载第一电源电压信号。

7.一种电致发光阵列基板的检测装置，其特征在于，所述电致发光阵列基板包括：衬底基板，位于所述衬底基板上的多个子像素，各所述子像素包括：像素驱动电路，位于所述像素驱动电路背离所述衬底基板一侧的绝缘层，以及位于所述绝缘层背离所述衬底基板一侧的阳极；

所述检测装置包括：

光源；

驱动单元，用于控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区；

采集单元，用于控制光源对所述电致发光阵列基板进行光照，采集透过所述电致发光阵列基板各所述子像素的光，并将采集到的光信号转换为各所述子像素对应的第一检测数值；

确定单元，用于至少根据各所述子像素对应的所述第一检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在不良。