[发明专利]紫外线数值修正方法与系统有效
申请号: | 201910548652.1 | 申请日: | 2019-06-24 |
公开(公告)号: | CN110186560B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 柯立安;张忠兴;简正忠;廖志庸 | 申请(专利权)人: | 环旭(深圳)电子科创有限公司 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人: | 刘抗美 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 紫外线 数值 修正 方法 系统 | ||
1.一种紫外线数值修正方法,其特征在于,包括:
从一紫外线传感器中获取感测数据,并将所述感测数据代入一计算公式以获得一紫外线数值;
当通过所述感测数据所计算出的所述紫外线数值超过一第一阈值,根据所述计算公式与所述第一阈值,计算获得多个增益参数,并根据所述多个增益参数将所述紫外线数值作一增益计算;
判断当前的所述紫外线数值相较于先前的所述紫外线数值的差值是否超过一第二阈值,且当前的所述紫外线数值之后的多个测量点测量的所述紫外线数值与先前的所述紫外线数值之间的所述差值若无继续超过所述第二阈值,则将此超过所述第二阈值的所述紫外线数值用先前的所述紫外线数值取代;
将低于一第三阈值的所述紫外线数值校正为零;以及
根据前述的步骤所计算出的所述紫外线数值,修正所述紫外线传感器的所述计算公式的参数。
2.根据权利要求1所述的紫外线数值修正方法,其特征在于,判断当前的所述紫外线数值相较于先前的所述紫外线数值的差值是否超过所述第二阈值,且当前的所述紫外线数值之后的所述多个测量点测量的所述紫外线数值与先前的所述紫外线数值之间的所述差值是否连续超过所述第二阈值的步骤是判断所述紫外线传感器是否发生感测错误。
3.根据权利要求1所述的紫外线数值修正方法,其特征在于,将低于所述第三阈值的所述紫外线数值校正为零的步骤是所述紫外线数值在室内或暗室所计算的数值。
4.根据权利要求1所述的紫外线数值修正方法,其特征在于,所述计算公式为应用线性回归的计算公式。
5.根据权利要求4所述的紫外线数值修正方法,其特征在于,当所述紫外线数值超出所述第一阈值,所述增益计算的公式为:((k(m*Input^2+Input))^a)*b,k与m为线性回归参数,a与b为所述增益参数,Input为所述紫外线传感器测量的所述感测数据。
6.根据权利要求5所述的紫外线数值修正方法,其特征在于,当所述紫外线数值低于所述第一阈值,所述计算公式为:k(m*Input^2+Input),k与m为线性回归参数,Input为所述紫外线传感器测量的所述感测数据。
7.一种紫外线数值修正系统,其特征在于,包括:
一紫外线传感器,感测紫外线辐射的强度,并输出感测数据;
一微处理器,连接所述紫外线传感器,且存储一计算公式,接收所述感测数据,并通过所述感测数据与所述计算公式以输出紫外线数值,且当所述紫外线数值超出一第一阈值,将所述计算公式作一增益计算;以及
一过滤器,连接所述紫外线传感器与所述微处理器,当所述紫外线数值与先前的所述紫外线数值之间的差值超过一第二阈值,且当前的所述紫外线数值之后的多个测量点测量的所述紫外线数值与先前的所述紫外线数值之间的差值并无继续超过所述第二阈值时,所述过滤器将超过所述第二阈值的所述紫外线数值用先前的所述紫外线数值取代,以及将低于一第三阈值的所述紫外线数值校正为零。
8.根据权利要求7所述的紫外线数值修正系统,其特征在于,所述计算公式为应用线性回归的计算公式。
9.根据权利要求7所述的紫外线数值修正系统,其特征在于,当所述紫外线数值超出所述第一阈值,所述增益计算的公式为:((k(m*Input^2+Input))^a)*b,k与m为线性回归参数,a与b为增益参数,Input为所述紫外线传感器测量的所述感测数据。
10.根据权利要求8所述的紫外线数值修正系统,其特征在于,当所述紫外线数值低于所述第一阈值,所述计算公式为:k(m*Input^2+Input),k与m为线性回归参数,Input为所述紫外线传感器测量的所述感测数据。
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