[发明专利]测试SOC系统中子系统功耗的方法、装置及系统

说明书

本发明公开了测试SOC系统中子系统功耗的方法、装置及系统，涉及系统芯片测试技术领域。一种测试SOC系统中子系统功耗的方法，各个子系统设置有独立的DCDC电源,电源管理模块控制DCDC电源的开关打开或关闭，从而使待测试目标子系统工作在DCDC电源下；以及,通过PLL控制电路对每个子系统设置独立的时钟选择开关，通过控制各个子系统对应的时钟选择开关打开或关闭使待测试目标子系统工作在PLL时钟上。本发明能够对各个子系统的电源和PLL时钟进行独立控制，控制电源和PLL时钟的输出和关闭，从而使分析子系统功耗变得简单。

技术领域

本发明涉及系统芯片测试技术领域，具体涉及系统功耗测试方法及应用。

背景技术

当前嵌入式系统越来越多的出现在日常生活中，以SOC(System On Chip)的应用尤为常见。SOC芯片通常由很多电路模块或IP构成，包括数字、模拟、射频和数模混合电路等，其具有规模大、集成度高、体积小等特点。随着SOC工艺不断演进，系统性能越来越强，系统的功耗也越来越重要。当前，系统功耗已成为衡量产品竞争力的一个关键指标：系统功耗越小，寿命越长，竞争力越强。而系统功耗的大小，主要体现在SOC整体子系统一起协同工作时，各子系统功耗的总和的大小。但由于系统芯片SOC的集成度高，而且整个系统上的时钟和电源复用度越来越高，耦合度也越来越大，要分解各模块的功耗的难度和成本也随之增加。作为举例，参见图1所示，比如SOC系统通常可以包括ARM(Advanced RISC Machines)、DSP(Digital Signal Processing数字信号处理)、GPU(Graphics Processing Unit图形处理器)及外围控制模块等各种功能子系统，整个SOC系统的电源和时钟往往都不是独立的提供给各子系统，通常由一个DCDC(直流电压转直流电压)电源给系统的多个子系统供电，比如ARM子系统和DSP子系统是同一个DCDC(直流电压转直流电压)供电，同一个PLL(phaselocked loop锁相环)时钟又可能同时供多个子系统及SOC内部总线使用，分解各模块的功耗的难度较大。

另一方面，各子系统往往还处于协同工作状态，比如GPU编解码视频数据时，DSP在处理数据算法，ARM在协同处理常规操作，多个子系统都参与工作，此时功耗可能会超过了预期值，此时还需要分析系统的功耗主要消耗在哪个子系统。再则，为了优化和减小整个系统的功耗，也需要知道SOC中各子系统的功耗，以更有针对性的优化和改进系统设计。本发明针对上述缺陷，提出了一种测试SOC系统中子系统功耗的方法，其操作简单，通用性强，对分析优化整个系统功耗有较大的指导意义。

发明内容

本发明的目的在于：克服现有技术的不足，提供了一种测试SOC系统中子系统功耗的方法、装置及系统，本发明能够对各个子系统的电源和时钟进行独立控制，使用DCDC电源开关和PLL选择开关，控制电源和PLL时钟的输出和关闭，从而使分析子系统功耗变得简单，其操作简单，通用性强。

为实现上述目标，本发明提供了如下技术方案：

一种测试SOC系统中子系统功耗的方法，对SOC系统的每个子系统设置独立的DCDC电源，且该DCDC电源对应设置有DCDC电源开关，所述DCDC电源开关由电源管理模块控制打开或关闭；以及，设置PLL控制电路，通过所述PLL控制电路针对每个子系统设置独立的PLL选择开关，当其中一个或多个PLL选择开关打开时，PLL就有输出，否则PLL无输出处于关闭状态；

测试目标子系统的功耗的步骤包括，

控制目标子系统对应的DCDC电源打开且其它子系统对应的DCDC电源关闭；

控制目标子系统对应的PLL选择开关打开且其它子系统对应的PLL选择开关关闭，使得目标子系统工作在PLL时钟上；

执行目标子系统测试代码，测出DCDC电源功耗W1；

控制目标子系统对应的PLL选择开关关闭，使目标子系统工作在系统时钟上；