[发明专利]测试SOC系统中子系统功耗的方法、装置及系统

权利要求书

1.一种测试SOC系统中子系统功耗的方法，其特征在于：对SOC系统的每个子系统设置独立的DCDC电源，且该DCDC电源对应设置有DCDC电源开关，所述DCDC电源开关由电源管理模块控制打开或关闭；以及，设置PLL控制电路，通过所述PLL控制电路对每个子系统设置独立的PLL选择开关，当其中一个或多个PLL选择开关打开时，PLL就有输出，否则PLL无输出处于关闭状态；

测试目标子系统工作在PLL时钟的功耗的步骤包括，

控制目标子系统对应的DCDC电源打开且其它子系统对应的DCDC电源关闭；

控制目标子系统对应的PLL选择开关打开且其它子系统对应的PLL选择开关关闭，从而使得目标子系统工作在PLL时钟上；

执行目标子系统测试代码，测出DCDC电源功耗W1；

控制目标子系统对应的PLL选择开关关闭，从而使目标子系统工作在系统时钟上；

控制目标子系统对应的DCDC电源关闭，测出DCDC电源功耗W2，前述功耗W1减去W2的值为所述目标子系统的功耗值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：通过精密电源测试电源功耗，所述精密电源能够控制输出电压，并显示电流和功率。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述SOC系统包括ARM子系统、DSP子系统和GPU子系统，前述子系统依次独立设置有DCDC电源DCDC_ARM、DCDC_DSP和DCDC_GPU，所述DCDC_ARM给ARM子系统供电，DCDC_DSP给DSP子系统供电，DCDC_GPU给GPU子系统供电；

默认情况下，所述DCDC_ARM打开，所述DCDC_DSP和DCDC_GPU关闭。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：通过所述PLL控制电路，针对ARM子系统、DSP子系统和GPU子系统依次设置PLL选择开关PLL_ARM_SEL、PLL_DSP_SEL和PLL_GPU_SEL；

默认情况下，所述PLL选择开关PLL_ARM_SEL、PLL_DSP_SEL和PLL_GPU_SEL均处于关闭状态，PLL无输出，此时，所述ARM子系统工作在系统时钟上，所述DSP子系统和GPU子系统处于断电状态。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：测试所述ARM子系统在DCDC电源下工作在PLL时钟的功耗的步骤包括，

DCDC电源连接精密电源供电；

读取ARM测试代码到SOC外部存储空间，打开PLL_ARM_SEL开关，使ARM子系统工作在PLL时钟上；

控制ARM执行测试代码，通过精密电源测出DCDC电源功耗W1；

关闭PLL_ARM_SEL开关，使ARM工作在系统时钟上；

关闭DCDC_ARM，通过精密电源测出DCDC电源功耗W2，两个功耗差值即为ARM子系统在DCDC电源下工作在PLL时钟的功耗。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：测试所述DSP子系统在DCDC电源下工作在PLL时钟的功耗的步骤包括，

ARM打开DCDC_DSP和PLL_DSP_SEL开关；

通过ARM把DSP的引导代码放置到DSP子系统内的启动向量位置，并把DSP测试代码拷贝到SOC外部存储空间，释放DSP 从重置状态到使用状态；

DSP启动，执行完前述引导代码后，执行DSP测试代码，通过精密电源测出DCDC电源功耗W1；

ARM关闭DCDC_DSP和PLL_DSP_SEL开关，通过精密电源测出DCDC电源功耗W2，两个功耗差值即为DSP子系统在DCDC电源下工作在PLL时钟的功耗。