[发明专利]一种硅钢片测量的定位平台及方法有效
| 申请号: | 201910512672.3 | 申请日: | 2019-06-13 |
| 公开(公告)号: | CN110174061B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
| 发明(设计)人: | 顾岳飞;郭元超 | 申请(专利权)人: | 上海电气集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/06 |
| 代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
| 地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 硅钢片 测量 定位 平台 方法 | ||
本发明公开了一种硅钢片测量的定位平台,包括:工作平台,用于承载所述硅钢片;纵向丝杆驱动机构,用于推动所述硅钢片纵向移动;第一横向丝杆驱动机构与第二横向丝杆驱动机构,都用于推动所述硅钢片横向移动,且第一横向丝杆驱动机构推动所述硅钢片移动的方向与第二横向丝杆驱动机构推动所述硅钢片移动的方向相反;限位机构,设于所述工作平台边沿,用于对所述硅钢片形成限位。本发明还公开了一种硅钢片测量的定位方法,本发明提供的定位平台与产线工序衔接,将硅钢片放到工作台的指定测量区域内,利用丝杆驱动机构两个方向的自动移动,准确定位硅钢片样板位置并完成测量,代替人工操作,提高效率,且能够避免人为误操作。
技术领域
本发明涉及测量领域,特别涉及一种硅钢片测量的定位平台。
背景技术
钢厂用于测量硅钢片样板的厚度、长度、毛刺和边浪,主要测量硅钢片样板三条边的厚度和长度,及两端的毛刺高度和边浪形状。目前硅钢片的测量过程都是通过人工摆放硅钢片样板至规定位置后测量,检测好第一条边后,再由人工旋转后测量第二条边和第三条边。由于整个过程中都需要人工摆放硅钢片样板,操作繁琐,效率低下,且测量数据有误差。
鉴于此,克服上述现有技术所存在的缺陷是本领域亟待解决的问题。
发明内容
为了克服现有技术中的问题,本发明提供了一种硅钢片测量的自动定位平台及方法。
为了实现上述目的,本发明公开的一种硅钢片测量的定位平台,包括:
工作平台,用于承载所述硅钢片;
丝杆驱动机构,设于所述工作平台下方,用于推动所述硅钢片移动,
限位机构,设于所述工作平台边沿,用于对所述硅钢片形成限位;
其中,所述丝杆驱动机构包括,
纵向丝杆驱动机构,用于推动所述硅钢片纵向移动;
第一横向丝杆驱动机构与第二横向丝杆驱动机构,都用于推动所述硅钢片横向移动,且第一横向丝杆驱动机构推动所述硅钢片移动的方向与第二横向丝杆驱动机构推动所述硅钢片移动的方向相反,
所述纵向丝杆驱动机构与所述第一横向丝杆驱动机构和所述第二横向丝杆驱动机构垂直设置。
进一步地,所述丝杆驱动机构包括:
丝杆;
伺服电机,用于驱动所述丝杆转动;
滑块,所述滑块套设于所述丝杆上,且所述滑块在所述丝杆上移动。
进一步地,所述丝杆驱动机构还包括:
推杆,固定设于所述滑块上;
推行块,固定设于所述推行杆两端;
所述工作平台设有通槽,所述推行块穿过所述通槽且高于所述所述工作平台,所述推行块用于推动所述硅钢片移动。
进一步地,所述丝杆驱动机构上设有位移传感器,用于测量所述硅钢片的移动距离;
所述限位机构上设有定位传感器,用于定位所述硅钢片。
进一步地,所述限位机构包括:
限位支架,与所述工作平台连接;限位块,设于所述限位支架两端;
直线滑台模组,限位机构的限位支架与所述直线滑台模组连接,且限位机构的限位支架在所述直线滑台模组上滑动。
进一步地,本发明提供的硅钢片测量的定位平台还包括:自动行走装置,所述自动行走装置设于所述工作平台边沿,与所述限位机构对应设置;
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