[发明专利]阳极结构及其制备方法在审
申请号: | 201910509975.X | 申请日: | 2019-06-13 |
公开(公告)号: | CN112086574A | 公开(公告)日: | 2020-12-15 |
发明(设计)人: | 蒋春萍;李玉雄;刘峰峰;林雨;隋展鹏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | H01L51/52 | 分类号: | H01L51/52;H01L51/56;H01L51/54 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阳极 结构 及其 制备 方法 | ||
一种阳极结构及其制备方法,其中,所述阳极结构应用于顶发射OLED微显示器件,于Si衬底上,自下而上依次包括:第一层反射提高层,用于提高所述阳极结构的反射率;第二层扩散阻挡层,用于阻挡所述第一层反射提高层的扩散;以及,第三层匹配层,用于匹配空穴注入层的最高被占据分子轨道。通过所述阳极结构及其制备方法,可以使顶发射OLED微显示器件的阳极结构具有高反射率、高功函数以及低电阻的优点。
技术领域
本发明涉及半导体技术,特别是涉及一种阳极结构及其制备方法。
背景技术
有机电致发光器件(Organic Light-Emitting Devices,OLED)是继平板显示(Flat panel displays)和固体照明(Solid-state lighting)技术发展以来研究非常广泛的光电产品。与传统的底发射器件相比,顶发射器件可以在Si基或带有复杂电 路系统的有源驱动TFT基板上实现高质量显示,迎合了当前高分辨率、大尺寸 和全彩显示的需求,是目前OLED研究的重点。由于硅基芯片衬底是不透光的, 因此OLED微显示器的发光单元必须设计成顶发射的结构,这使得顶发射 OLED(TEOLED)成为OLED微显示器设计的重要课题。出于要考虑与硅基电路的 集成需要,又要考虑顶发射结构中的强微腔效应对光射出的选择性,以及透 明顶电极的制备和器件封装等技术难题,使得低驱动电压、高亮度顶发射OLED 的设计和制造具有很大挑战,这也导致了OLED微显示器的技术难度。
结合硅基电路的集成要求,要制作一个高效的硅基OLED微显示顶发射 器件,并实现商品化,必须满足以下一系列的条件:1、低开启电压,以满足 普通CMOS器件;2、下电极要有高的反射率,实现顶发射结构中的强微腔效 应对光射出的选择性;3、稳定性好且透过率高的半透明阴极(上电极);4、 阳极材料功函数较高,降低空穴注入势垒,改善开启电压,以实现低压驱动; 5、器件封装;6、制程简单,良品率高。因此,低驱动电压、高亮度TEOLED 的设计和制备挑战较大,这也给OLED微显示器的设计带来了巨大的难度; 另外更重要的一点,产品商业化必须面对产品合格率和成本的要求,制程简 单而高效需求同时兼顾。
在OLED器件中,与金属下电极紧邻的是空穴注入层。目前典型的有机 空穴注入材料HIL的最高被占据分子轨道(HOMO能级)都大于5.0eV,为提高 空穴注入的效率,降低开启电压,则金属下电极的选择至关重要,特别是其 功函数必须能与HIL层的HOMO相匹配,因此金属材料功函数必须重点研 究与谨慎选择,因此高功函数金属则成为首选。另外,上下两电极之间的典 型距离,即OLED有机材料膜厚,一般在几百纳米量级,正处于可见光波长范围,阳极和阴极则形成反射面和半反射面,在阴阳两电极之间形成谐振腔, 导致OLED器件产生强烈的微腔效应。因此,在顶发射器件中,下电极还要求 具有较高的反射率,以充分利用微腔效应,提高器件发光效率。可见,下电 极金属功函数和反射率是顶发射器件阳极重点考虑的两个因素。
在顶发射器件结构中,由于有机层和透明导电电极本身的吸收和反射, 光能就会受到很大损失。如何进一步提高出光率是目前OLED研究的一个重要 组成部份。下电极的高反射率可明显提高OLED发光效率,因此高反射率下电 极制备一直是研究热点。一些常见的金属如Ag、Al、Au、Ni、Pt、Mo等作为 器件阳极材料已被广泛研究。Al和Ag在可见波段的反射率高达90%,但是其功 函数稍低,只有约4.3eV。Au、Ni、Pt等的功函数较高,但反射率只有约50%。 Kwok课题组在2004年用Pt为反射阳极,Pr2O3为空穴注入层,制备了顶发射器 件,器件性能接近传统底发射器件。Chen等人在2004年以Al和Ag为反射阴极, 三层薄膜结构Alq3/Li F/Al为电子注入层,Ag为半透明阳极,制备了倒置顶发射 器件,以Alq3为发光层,器件电流效率为5.3cd/A(Ag阴极)和4.5cd/A(Al阴 极)。因此,要提高OLED的出光效率,反射率是顶发射器件阳极重点考虑的 因素。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
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