[发明专利]一种测试走线DUT性能的仿真方法有效
申请号: | 201910505355.9 | 申请日: | 2019-06-12 |
公开(公告)号: | CN110298086B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 吴均;黄刚 | 申请(专利权)人: | 深圳市一博科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 深圳市远航专利商标事务所(普通合伙) 44276 | 代理人: | 田志远;袁浩华 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 dut 性能 仿真 方法 | ||
1.一种测试走线DUT性能的仿真方法,其特征在于,包括
获取2xthru线和2xthru+DUT线的参数;
3D仿真拟合所述2xthru线;
拟合完成后,修改模型,仿真得到1xthru线的参数,在对所述1xthru线进行仿真的过程中,具体包括:
先将所述2xthru线提取到仿真软件中,进行性能参数的调整;
然后将提取出来的所述2xthru线裁剪一半,剩余所述1xthru线的模型;
在所述1xthru线的两端分别添加1xthru线第一端口和1xthru线第二端口;
最后对所述1xthru线进行仿真,得到所述1xthru线的参数;
在所述2xthru+DUT线中,进行所述1xthru线的去嵌,得到去嵌之后的DUT参数,在进行所述1xthru线的去嵌过程中,将所述2xthru+DUT线的参数及仿真得到的所述1xthru线的参数置于ADS软件中,去嵌后得到所述DUT的参数。
2.根据权利要求1所述的测试走线DUT性能的仿真方法,其特征在于,通过网路分析仪的SOLT校准进行测试,得到所述2xthru线和所述2xthru+DUT线的参数。
3.根据权利要求1所述的测试走线DUT性能的仿真方法,其特征在于,在3D仿真拟合所述2xthru线的过程中,先将所述2xthru线提取到仿真软件中,并在所述2xthru线的两端分别添加2xthru线第一端口和2xthru线第二端口,形成所述2xthru线的仿真模型,并实现所述2xthru线的仿真拟合。
4.根据权利要求3所述的测试走线DUT性能的仿真方法,其特征在于,形成所述2xthru线的仿真模型后,对板材的介电常数和损耗因子进行设置,并修改传输线的线宽、介质厚度的参数,然后进行所述2xthru线的仿真拟合。
5.根据权利要求1所述的测试走线DUT性能的仿真方法,其特征在于,在所述性能参数的调整过程中,先对板材的介电常数和损耗因子进行设置,后设置走线的粗糙度参数。
6.根据权利要求3-5任意一项所述的测试走线DUT性能的仿真方法,其特征在于,采用3维仿真软件HFSS进行3D仿真。
7.根据权利要求1所述的测试走线DUT性能的仿真方法,其特征在于,将所述2xthru+DUT线的参数及所述1xthru线的参数置于ADS软件的deembed控件中进行去嵌。
8.根据权利要求1所述的测试走线DUT性能的仿真方法,其特征在于,还包括与AFR软件去嵌后的参数进行插损及回损比较的过程。
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