[发明专利]平整度检测方法、装置、设备、存储介质及系统

权利要求书

1.一种平整度检测方法，其特征在于，包括：

获取包含目标物体检测面的图像；

提取所述图像中目标对象的骨架线，所述目标对象位于目标物体的检测面中；

计算所述骨架线与标准骨架线的误差值，所述标准骨架线为标准对象的骨架线，所述标准对象位于标准物体的检测面中；

根据所述误差值确定所述检测面的平整度检测结果；

所述计算所述骨架线与标准骨架线的误差值包括：

获取骨架线的多个待测关键点以及标准骨架线的多个标准关键点，所述待测关键点和所述标准关键点一一对应；

计算每个所述待测关键点和对应的标准关键点的坐标差值；

对全部坐标差值求和，以得到所述骨架线与标准骨架线的误差值；

所述获取骨架线的多个待测关键点包括：

获取基准框，所述基准框用于框定所述目标对象对应的骨架线；

确定所述基准框和所述目标对象的交点，并将所述交点确定为待测关键点；

所述待测关键点的数量为至少四个，所述方法还包括：

根据所述待测关键点的像素坐标，选择最外围的四个待测关键点；

获取每个最外围的待测关键点与对应标准关键点的坐标差值；

根据所述坐标差值与标准差值的比对结果，确定所述目标物体检测面的边角卷曲结果；

所述目标物体为键盘键帽，所述检测面为键帽中印有字符的平面，所述目标对象为所述字符。

2.根据权利要求1所述的平整度检测方法，其特征在于，所述获取包含目标物体检测面的图像包括：

获取多幅子图像，各所述子图像对应目标物体检测面的不同位置区域；

对多幅所述子图像进行拼接处理，以得到包含完整目标物体检测面的图像。

3.根据权利要求2所述的平整度检测方法，其特征在于，所述对多幅所述子图像进行拼接处理，以得到包含完整目标物体检测面的图像包括：

获取两幅位置互邻的子图像，两幅所述子图像中任一幅为参考图像，另一幅为待修正图像；

根据两幅子图像的重合区域确定两幅子图像之间的角度差异；

根据所述角度差异对所述待修正图像进行角度矫正，以得到修正图像；

对所述修正图像和参考图像进行拼接；

遍历全部位置互邻的子图像后，得到包含完整目标物体检测面的图像。

4.根据权利要求3所述的平整度检测方法，其特征在于，所述根据两幅子图像的重合区域确定两幅子图像之间的角度差异包括：

确认两幅子图像的重合区域；

在两个重合区域中选择同一区域范围的子区域，所述子区域包括位于参考图像的参考区域和位于待修正图像的待修正区域；

通过频域变换，分别得到所述参考区域的参考频域能量图和所述待修正区域的待修正频域能量图；

将所述参考频域能量图和待修正频域能量图分别转换成对数极坐标参考图和对数极坐标待修正图；

计算所述对数极坐标参考图和对数极坐标待修正图的互功率谱；

根据所述互功率谱确定两幅子图像之间的角度差异。

5.根据权利要求4所述的平整度检测方法，其特征在于，所述对所述修正图像和参考图像进行拼接包括：

在所述修正图像中，查找与所述参考区域匹配的位置区域；

根据所述位置区域和所述参考区域，对所述修正图像和参考图像进行拼接。

6.根据权利要求1所述的平整度检测方法，其特征在于，所述提取所述图像中目标对象的骨架线之前，还包括：

对所述图像进行二值化处理，得到二值化图像，所述二值化图像的前景部分由目标对象构成。