[发明专利]存储器测试方法、装置、存储器、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种存储器测试方法，其特征在于，所述方法包括：

对存储器中的各存储单元进行保持时间测试，以分别获得各所述存储单元的保持时间；

确定本次获得的各所述存储单元的保持时间是否不小于预设的时间规格；

当各所述存储单元的保持时间不小于所述时间规格时，统计已执行的保持时间测试的当前测试次数；以及

当所述当前测试次数小于预设测试次数时，进入下一次所述保持时间测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对存储器中的各存储单元进行保持时间测试包括：

获取测试数据图案；

按照所述测试数据图案依次对所述存储器中的各所述存储单元进行预设读写次数的读写操作，以分别获得每次所述读写操作的各所述存储单元的结果数据；每次所述读写操作对应于不同的暂停时间；以及

基于所述存储单元在每次所述读写操作的结果数据及对应的暂停时间，分别获得各所述存储单元的保持时间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试数据图案中包含多个目标数据，每个所述目标数据对应于一存储单元；所述按照所述测试数据图案依次对所述存储器中的各所述存储单元进行预设读写次数的读写操作，包括：

在每次所述读写操作中，按照所述测试数据图案在各所述存储单元中写入相应的目标数据；

暂停预设的暂停时间；以及

分别从各所述存储单元中读出结果数据。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述存储单元在每次所述读写操作的结果数据及对应的暂停时间，分别获得各所述存储单元的保持时间，包括：

比较各所述存储单元的结果数据和相应的目标数据；

当所述存储单元的结果数据和相应的目标数据相同时，确定所述存储单元读写成功；

当所述存储单元的结果数据和相应的目标数据不同时，确定所述存储单元读写失败；

筛选各所述存储单元在预设读写次数的读写操作中，读写失败的读写操作；以及

将各所述存储单元在所筛选的读写操作中的最短暂停时间所对应的有效暂停时间作为相应所述存储单元的保持时间。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述存储单元在每次所述读写操作的结果数据及对应的暂停时间，分别获得各所述存储单元的保持时间，包括：

将每次所述读写操作各存储单元的结果数据生成结果数据图案；

将各所述结果数据图案和所述测试数据图案进行比较，筛选出与所述测试数据图案不一致的结果数据图案；以及

基于筛选出的结果数据图案，按照对应的暂停时间依次确定各所述存储单元的保持时间。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，每次对存储器中的各存储单元进行的保持时间测试中，获取的测试数据图案相同。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，每次对存储器中的各存储单元进行的保持时间测试中，获取的测试数据图案不同。

8.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设读写次数的所述读写操作对应的暂停时间分别为：t1,t2,t3,……,tM，其中t1＝1*a,t2＝2*a,t3＝3*a,......,tM＝M*a，a为预设常量，M为大于0的整数。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定本次获得的各所述存储单元的保持时间是否不小于预设的时间规格之后，所述方法还包括：

当至少一个所述存储单元的所述保持时间小于所述时间规格时，确定所述存储器存在失效存储单元；以及

当所述当前测试次数不小于预设测试次数时，确定所述存储器测试通过。

10.根据权利要求1-9任一项所述的方法，其特征在于，所述存储器为动态随机存取存储器。