[发明专利]一种铜镁合金及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910457583.3 申请日: 2019-05-29
公开(公告)号: CN110144483B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 王亚强;张金钰;李晓格;吴凯;刘刚;孙军 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: C22C9/00 分类号: C22C9/00;C23C14/35;C23C14/18
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 范巍
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 镁合金 及其 制备 方法
【说明书】:

发明公开了一种铜镁合金及其制备方法,Cu‑Mg合金由以下成分组成,Mg原子百分比2.6~16.8,其余为Cu。制备时首先对硅基体表面进行超声清洗并烘干;然后将基盘送入磁控溅射镀膜室抽真空;再采用直流+射频电源共溅射制备Cu‑Mg合金;最后对得到的硅基体进行真空冷却后,得到铜镁合金材料,解决材料中合金元素分布不均匀的出现,所得合金为纳米孪晶材料,且孪晶片层尺寸细小,有效改善了合金材料的综合力学性能。

技术领域

本发明属于金属结构材料领域,具体为一种铜镁合金及其制备方法。

背景技术

随着电子工业和信息产业的快速发展,微电子元器件的微型化、轻量化和集成化成为新一代微电子技术的发展趋势和必然要求。微纳米器件作为信息时代的物质基础,成为21世纪高新技术重点研究的对象,其具有几何尺寸小、组装结构复杂等特点,目前已广泛应用于航空航天、医疗、通信、能源等领域。

然而,微纳器件的力学变形通常不稳定,容易发生突然失效。因此,为了确保微电子元器件的稳定正常服役,设计具有优异力学性能的纳米金属材料具有重要的应用价值和意义。

铜由于具有较高的抗电迁移性能和良好的导热导电稳定性,作为互连线材料在微电子产业中被广泛应用。但其机械强度较低,在互连线制造过程中容易被刮伤,造成表面损坏,从而加速微纳器件的损坏。因此,针对提高微纳电子元器件的小尺寸材料机械强度和变形稳定性问题,亟待简单快捷的解决方案。

发明内容

针对现有技术中存在的问题,本发明提供一种铜镁合金及其制备方法,所制备的铜镁合金具有均匀的微观组织和优异的机械强度,有效改善材料的服役寿命。

本发明是通过以下技术方案来实现:

一种铜镁合金,铜镁合金中原子百分比为:Mg 2.8%~16.8%,其余为Cu;所述铜镁合金的晶粒为柱状纳米晶。

优选的,所述柱状纳米晶中含有纳米孪晶纳,纳米孪晶的百分比不超过75%。

优选的,所述Mg的原子百分比为8.2%。

优选的,所述铜镁合金的纳米压痕硬度为2.97GPa~4.09GPa。

本发明还提供了上述的铜镁合金的制备方法,包括以下步骤;

步骤1:对基体表面进行清洗烘干;

步骤2:将基体送入磁控溅射镀膜室,然后抽真空;

步骤3:采用磁控溅射共溅射方法在基体上制备铜镁合金;

步骤4:将步骤3得到的基体进行真空冷却,得到铜镁合金。

优选的,步骤1中所述清洗烘干处理的方法具体如下;

将抛光的基体在丙酮和酒精中依次超声清洗10min,然后烘干,抛光面的粗糙度小于0.8nm。

优选的,步骤2中所述抽真空至背底真空度小于4.0×10-4Pa。

优选的,步骤3中所述磁控溅射共溅射方法为:Cu靶采用直流电源进行溅射,Mg靶采用射频电源进行溅射。

优选的,所述Cu靶纯度99.99wt%,直流电源功率200W,Mg靶纯度99.97wt%,射频电源功率10~45W,沉积气压1.0Pa,沉积温度为室温,基盘转速15r/min,沉积时间5000s,所得Cu-Mg合金厚度为1.5μm。

优选的,所述基体为硅基体。

与现有技术相比,本发明具有以下有益的技术效果:

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