[发明专利]物体体积测量方法、装置、测量设备及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种物体体积测量方法、装置、测量设备及存储介质，本申请实施例可以通过测量设备采集物体的当前物体图像，以及检测所述当前物体图像中物体的关键点位置；根据所述关键点位置生成预设参考模型；若所述当前物体图像中物体的预设边与所述预设参考模型重合，则获取所述测量设备沿着所述物体方向运动的运动参数；当所述运动参数满足预设条件时，通过所述测量设备采集所述物体的物体图像，并基于所述物体图像计算所述物体的体积，提高了测量的准确性和效率。

技术领域

本申请涉及视觉测量技术领域，具体涉及一种物体体积测量方法、装置、测量设备及存储介质。

背景技术

随着科技的发展，越来越多物体的体积测量不仅可以通过接触式进行测量，而且还可以通过非接触式进行测量。以箱体的体积测量为例，现有技术中，一般通过人工测量箱体体积，该人工测量箱体体积的方式存在测量效率低和测量准确性低等问题；或者，通过如结构光、激光传感器等硬件设备测量箱体体积，该测量方法中存在着新增额外硬件而测量成本高等问题，而且测量准确性较低。

发明内容

本申请实施例提供一种物体体积测量方法、装置、测量设备及存储介质，可以提高物体体积测量的准确性和效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种物体体积测量方法，包括：

通过测量设备采集物体的当前物体图像，以及检测所述当前物体图像中物体的关键点位置；

根据所述关键点位置生成预设参考模型；

若所述当前物体图像中物体的预设边与所述预设参考模型重合，则获取所述测量设备沿着所述物体方向运动的运动参数；

当所述运动参数满足预设条件时，通过所述测量设备采集所述物体的物体图像，并基于所述物体图像计算所述物体的体积。

在一些实施方式中，所述根据所述关键点位置生成预设参考模型包括：

当检测到的所述当前物体图像中物体的关键点位置为预设个数时，根据所述关键点位置构造物体三维结构；

根据所述物体三维结构生成预设参考模型。

在一些实施方式中，所述根据所述关键点位置构造物体三维结构包括：

根据所述关键点位置计算所述物体的边长和物体位姿；

获取所述测量设备在采集所述当前物体图像时的设备位姿和设备参数；

根据所述物体的边长、物体位姿、设备位姿和设备参数构造物体三维结构。

在一些实施方式中，所述根据所述物体三维结构生成预设参考模型包括：

根据所述物体三维结构，构造边长之间比例相等且相邻两边之间的角度构成预设角度值的三边，得到基准参考模型；

获取所述测量设备显示屏幕的显示边长，根据所述显示边长确定所述基准参考模型外接四边形区域的边长；

基于所述外接四边形区域的边长，对所述基准参考模型进行缩放处理，得到预设参考模型。

在一些实施方式中，所述获取所述测量设备沿着所述物体方向运动的运动参数包括：

将所述预设参考模型显示在所述测量设备的显示屏幕内；

基于显示的所述预设参考模型，调整所述测量设备的拍摄角度，直至所述测量设备捕获到物体图像中物体的边长与所述预设参考模型重合时，获取所述测量设备沿着所述物体方向运动的运动参数。

在一些实施方式中，所述当所述运动参数满足预设条件时，通过所述测量设备采集所述物体的物体图像之前，所述方法还包括：