[发明专利]虚拟测试方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.虚拟测试方法，其特征在于，包括：

设置当前测试模式为虚拟测试模式，在所述虚拟测试模式中，通过虚拟测试寄存器接管和测试关联的控制信号；其中，所述虚拟测试寄存器封装在芯片级系统芯片内部，用于对所述芯片级系统芯片进行功能测试；所述虚拟测试寄存器与所述芯片级系统芯片的输入和输出引脚相连接；

通过所述虚拟测试寄存器生成传输时钟，进行测试链路装载；

当测试链路装载完毕后，通过所述虚拟测试寄存器生成捕获时钟，进行测试结果的捕获。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述传输时钟根据TCK信号、测试模式信号、传输使能信号、空闲状态信号和所述空闲状态信号的上升沿生成。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述虚拟测试寄存器还用于设置由空闲状态信号得到传输时钟的延迟。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述进行测试链路装载包括：

进行第一测试链路的装载；

相应的，在进行测试结果的捕获之后，还包括：

进行第二测试链路的装载，当第二测试链路装载完毕后，通过所述虚拟测试寄存器生成捕获时钟，进行测试结果的捕获。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，当第二测试链路装载完毕后，通过所述虚拟测试寄存器生成捕获时钟，进行测试结果的捕获之后，还包括：

通过所述虚拟测试寄存器生成数据更新时钟。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在设置当前测试模式为虚拟测试模式之前，还包括：

进行芯片初始化；

相应的，在进行测试结果的捕获之后，还包括：

根据捕获的测试结果确定所述芯片是否满足测试条件。

7.虚拟测试装置，其特征在于，包括：

模式设置模块，用于设置当前测试模式为虚拟测试模式，在所述虚拟测试模式中，通过虚拟测试寄存器接管和测试关联的控制信号；其中，所述虚拟测试寄存器封装在芯片级系统芯片内部，用于对所述芯片级系统芯片进行功能测试；所述虚拟测试寄存器与所述芯片级系统芯片的输入和输出引脚相连接；

传输时钟控制模块，用于通过所述虚拟测试寄存器生成传输时钟，进行测试链路装载；

捕获时钟控制模块，用于当测试链路装载完毕后，通过所述虚拟测试寄存器生成捕获时钟，进行测试结果的捕获。

8.一种设备，包括：处理器、存储器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-6中任一项所述的虚拟测试方法。

9.一种包含设备可执行指令的存储介质，其特征在于，所述设备可执行指令在由设备处理器执行时用于执行如权利要求1-6中任一项所述的虚拟测试方法。