[发明专利]一种键盘平整度检测装置

说明书

本发明涉及一种键盘平整度检测装置，其包括：框架机构，所述框架机构设置于水平面上，所述框架机构包括一水平板及两垂直板；滑轨机构，所述滑轨机构设置于所述框架机构上，所述滑轨机构包括第一滑轨结构及第二滑轨结构；检测机构，所述检测机构设置于所述第二滑轨结构上，所述检测机构包括螺杆结构、凹块、活动块、连接柱、弹簧结构及探头结构，利用本发明的键盘平整度检测装置，不仅通过调整探头结构的高度以适应不同规格笔记本电脑键盘的键帽且作业简便，还实现了无重力压迫键帽，从而减少误差。

【技术领域】

本发明涉及一种检测装置，具体是涉及一种键盘平整度检测装置。

【背景技术】

在实际组装笔记本电脑键盘过程中，由于组装不当，造成笔记本电脑键盘的键帽不平整，现阶段的检测方式是利用钢尺配合塞尺进行检测，然而，由于该检测方式用到的钢尺及塞尺本身重量会压到键帽，造成误差的增加，又由于塞尺的检测区域有限，需要进行多次检测，从而产生了作业复杂及检测结果不准确的问题。

有鉴于此，实有必要提供一种键盘平整度检测装置，以解决现阶段的检测方式产生的作业复杂、误差增加及检测结果不准确的问题。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种键盘平整度检测装置，以解决现阶段的检测方式产生的作业复杂、误差增加及检测结果不准确的问题，该键盘平整度检测装置其包括：

框架机构，所述框架机构设置于水平面上，所述框架机构包括一水平板、及两垂直板，所述水平板设置于水平面上，所述垂直板垂直设置于所述水平板的两侧；

滑轨机构，所述滑轨机构设置于所述框架机构上，所述滑轨机构包括第一滑轨结构及第二滑轨结构，所述第一滑轨结构设置于所述垂直板上，所述第二滑轨结构设置于所述水平板的上方，所述第二滑轨结构垂直连接所述第一滑轨结构；

检测机构，所述检测机构设置于所述第二滑轨结构上，所述检测机构包括螺杆结构、凹块、活动块、连接柱、弹簧结构及探头结构，所述螺杆结构设置于所述凹块上，所述螺杆结构的内部设有一推动柱，所述凹块固定于所述第二滑轨结构上，所述活动块设置于所述凹块的中间部位且所述活动块与所述凹块互不干涉，所述连接柱的一端固定于所述活动块上，所述弹簧结构设置于所述连接柱上，所述探头结构的顶端固定于所述活动块的下表面。

可选的，所述第一滑轨结构为纵向滑轨结构，所述第二滑轨结构为横向滑轨结构。

可选的，所述框架结构为U形框架结构。

可选的，所述螺杆结构为旋转式螺杆结构，所述螺杆结构的上端设有一刻度结构。

可选的，所述凹块上设有第一通孔、第二通孔及第三通孔，所述第一通孔及所述螺杆结构的位置对应，所述螺杆结构内部的推动柱于所述第一通孔内进行上下移动，所述第二通孔及所述连接柱的位置对应，所述连接柱于所述第二通孔内进行上下移动，所述第三通孔及所述探头结构的位置对应，所述探头结构于所述第三通孔内进行上下移动。

可选的，所述探头结构的下端为弧形探头结构，所述弧形探头结构的外表面光滑。

可选的，所述第二滑轨结构上设有一连接件，所述连接件连接所述凹块及所述第二滑轨结构。

可选的，所述水平板及所述垂直板的下表面设有一层保护膜，所述保护膜的材料为软胶材料。

相较于现有技术，本发明的键盘平整度检测装置通过横向滑轨结构及纵向滑轨结构带动探头结构移动，从而覆盖整个键盘区域，再通过旋转螺杆结构来调整探头结构的高度，最后通过螺杆结构上端的刻度结构显示的刻度值差异来确认笔记本电脑键盘的键帽不平整，利用本发明的键盘平整度检测装置，不仅通过调整探头结构的高度以适应不同规格笔记本电脑键盘的键帽且作业简便，还实现了无重力压迫键帽，从而减少误差。

【附图说明】

图1是本发明的键盘平整度检测装置的结构示意图。