[发明专利]一种键盘平整度检测装置

权利要求书

1.一种键盘平整度检测装置，其特征在于，包括：

框架机构，所述框架机构设置于水平面上，所述框架机构包括一水平板、及两垂直板，所述水平板设置于水平面上，所述垂直板垂直设置于所述水平板的两侧；

滑轨机构，所述滑轨机构设置于所述框架机构上，所述滑轨机构包括第一滑轨结构及第二滑轨结构，所述第一滑轨结构设置于所述垂直板上，所述第二滑轨结构设置于所述水平板的上方，所述第二滑轨结构垂直连接所述第一滑轨结构；

检测机构，所述检测机构设置于所述第二滑轨结构上，所述检测机构包括螺杆结构、凹块、活动块、连接柱、弹簧结构及探头结构，所述螺杆结构设置于所述凹块上，所述螺杆结构的内部设有一推动柱，所述凹块固定于所述第二滑轨结构上，所述活动块设置于所述凹块的中间部位且所述活动块与所述凹块互不干涉，所述连接柱的一端固定于所述活动块上，所述弹簧结构设置于活动块与凹块之间且套设于所述连接柱上，所述探头结构的顶端固定于所述活动块的下表面。

2.根据权利要求1所述的键盘平整度检测装置，其特征在于，所述第一滑轨结构为纵向滑轨结构，所述第二滑轨结构为横向滑轨结构。

3.根据权利要求1所述的键盘平整度检测装置，其特征在于，所述框架机 构为U形框架机构 。

4.根据权利要求1所述的键盘平整度检测装置，其特征在于，所述螺杆结构为旋转式螺杆结构，所述螺杆结构的上端设有一刻度结构。

5.根据权利要求1所述的键盘平整度检测装置，其特征在于，所述凹块上设有第一通孔、第二通孔及第三通孔，所述第一通孔及所述螺杆结构的位置对应，所述螺杆结构内部的推动柱于所述第一通孔内进行上下移动，所述第二通孔及所述连接柱的位置对应，所述连接柱于所述第二通孔内进行上下移动，所述第三通孔及所述探头结构的位置对应，所述探头结构于所述第三通孔内进行上下移动。

6.根据权利要求1所述的键盘平整度检测装置，其特征在于，所述探头结构的下端为弧形探头结构，所述弧形探头结构的外表面光滑。

7.根据权利要求1所述的键盘平整度检测装置，其特征在于，所述第二滑轨结构上设有一连接件，所述连接件连接所述凹块及所述第二滑轨结构。

8.根据权利要求1所述的键盘平整度检测装置，其特征在于，所述水平板及所述垂直板的下表面设有一层保护膜，所述保护膜的材料为软胶材料。