[发明专利]夯土建筑土料及评价夯土建筑土料的方法有效
申请号: | 201910369550.3 | 申请日: | 2019-05-06 |
公开(公告)号: | CN109987894B | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 穆钧;周铁钢;蒋蔚;梁增飞;顾倩倩;崔大鹏;杨雪红;詹林鑫 | 申请(专利权)人: | 土上(北京)建筑设计咨询有限公司 |
主分类号: | C04B28/00 | 分类号: | C04B28/00;C04B20/00;G01N5/04 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 肖丽 |
地址: | 102400 北京市房山区燕山*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 夯土 建筑 料及 评价 方法 | ||
1.一种评价夯土建筑土料的方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据夯土建筑土料获得理论理想级配上限曲线、理论理想级配下限曲线、理论极限级配浮动上限曲线和理论极限级配浮动下限曲线;所述夯土建筑土料按质量百分比计,包括:砾石0-56.9%、砂粒32.04-65.95%、粉粒3.98-13.01%和黏粒7.08-21.04%;所述理论理想级配上限曲线所对应的配比为:砾石10.4%、砂粒59.92%、粉粒10.46%、黏粒19.22%;所述理论理想级配下限曲线对应的配比为:砾石50%、砂粒36.75%、粉粒4.36%、黏粒8.89%;所述理论极限级配浮动上限曲线对应的配比为:砾石0%、砂粒65.95%、粉粒13.01%、黏粒21.04%;所述理论极限级配浮动下限曲线对应的配比为:砾石56.9%、砂粒32.04%、粉粒3.98%、黏粒7.08%;粒径大于2mm 的土粒被称为砾石,粒径在2mm 与0.02mm 之间的土粒称为砂粒,粒径在0.02mm 与0.002mm 之间的土粒称为粉粒,小于0.002mm 的土粒称为黏粒;
根据所述理论理想级配上限曲线和所述理论理想级配下限曲线获得最优级配区间,根据所述理论极限级配浮动上限曲线和所述理论极限级配浮动下限曲线获得极限最优级配区间;
使用筛分法和沉降法测定被测土样的粒径分布,获得被测土样级配曲线;
将所述被测土样级配曲线与所述最优级配区间、所述极限最优级配区间比较,得出评估结果;
所述评估的过程包括:当所述被测土样级配曲线落入所述最优级配区间,判定为优秀;当所述被测土料土样级配曲线落入所述最优级配区间与所述极限最优级配区间之间,判定为合格;当所述被测土料土样级配曲线在所述极限最优级配区间之外,判定为不合格。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述夯土建筑土料按质量百分比计,包括:砾石10.4-50%、砂粒36.75-59.92%、粉粒4.36-10.46%和黏粒8.89-19.22%。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述夯土建筑土料按质量百分比计,包括:
第一砾石0-34.14%、第二砾石0-22.76%、细砂12.64-24.95%、粗砂19.4-41%、粉粒3.98-13.01%和黏粒7.08-21.04%;
所述第一砾石为粒径2-16mm的砾石,所述第二砾石为粒径大于16mm、小于等于32mm的砾石;所述细砂为粒径0.02-0.2mm的砂粒,所述粗砂为粒径大于0.2mm、小于2mm的砂。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述夯土建筑土料按质量百分比计,包括:
所述第一砾石10.4-30%、所述第二砾石0-20%、所述细砂14.45-22.72%、所述粗砂22.3-37.2%、所述粉粒4.36-10.46%和所述黏粒8.89-19.22%。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述筛分法用于检测被测土样中粒径大于0.08mm的不同粒径的颗粒的质量百分比,所述沉降法用于检测被测土样中粒径小于等于0.08mm的颗粒的质量百分比。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述筛分法包括以下步骤:
按照由上至下孔径依次变小的顺序叠放多层筛盘,将所述被测土样干燥至恒重后使用所述筛盘进行筛分;
将筛分后的每个所述筛盘逐一用水浸没并清洗小颗粒,相邻上一层筛盘的清洗物合并至下一层筛盘中;
将未过筛的颗粒和粒径小于等于0.08mm的颗粒分别干燥至恒重,计算得到所述被测土样中粒径大于0.08mm的不同粒径的颗粒的质量百分比。
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