[发明专利]光学透过率评估方法、装置及光伏芯片封装设计方法

权利要求书

1.一种光学透过率评估方法，其特征在于，包括：

针对待评估的光伏芯片的封装组合，获取该封装组合的封装参数；

根据预先构建的光学透过率评估模型和所述封装组合的封装参数，评估所述封装组合在光伏芯片的吸收谱段的光学透过率；

其中，所述封装组合的封装参数包括：所述封装组合中的各封装层的材料和封装层的厚度。

2.根据权利要求1所述的光学透过率评估方法，其特征在于，所述光学透过率评估模型预先根据如下方式构建：

针对每种封装样本组合，获取所述封装样本组合在所述光伏芯片的吸收谱段的光学透过率；

根据各封装样本组合的封装参数，以及各封装样本组合在所述吸收谱段的光学透过率，进行机器学习，得到所述光学透过率评估模型。

3.根据权利要求2所述的光学透过率评估方法，其特征在于，所述获取所述封装样本组合在所述光伏芯片的吸收谱段的光学透过率，包括：

针对所述封装样本组合中每一种封装层，获取所述封装层在所述吸收谱段的各种波长下的光学透过率和吸收率；

针对所述吸收谱段的每一种波长，根据各封装层在所述波长下的光学透过率和吸收率，计算该所述封装样本组合在所述波长下的光学透过率。

4.根据权利要求3所述的光学透过率评估方法，其特征在于，所述封装层在所述吸收谱段的各种波长下的光学透过率可以通过如下方式获取：

基于预先获取的所述封装层在所述吸收谱段的若干种波长下的光学透过率，通过拟合的方式得到所述封装层在整个吸收谱段的各种波长下的光学透过率；或

基于预先获取的所述封装层在所述吸收谱段的若干种波长下的吸收率和反射率，通过拟合的方式得到所述封装层在整个吸收谱段的各种波长下的吸收率和反射率；根据光学透过率与吸收率和反射率之间的关系式得到所述封装层在所述吸收谱段的各种波长下的光学透过率。

5.根据权利要求3所述的光学透过率评估方法，其特征在于，所述根据各封装层在所述波长下的光学透过率和吸收率，计算所述封装样本组合在所述波长下的光学透过率，包括：

针对所述封装样本组合中的每一种封装层，计算所述封装层在所述波长下的光学透过率与吸收率的差值，并作为所述封装层在所述波长下的系统光学透过率；

将所述封装样本组合中各封装层在所述波长下的系统光学透过率进行乘积，得到乘积结果，并将所述乘积结果作为所述封装样本组合在所述波长下的光学透过率。

6.根据权利要求1所述的光学透过率评估方法，其特征在于，所述根据预先构建的光学透过率评估模型和所述封装组合的封装参数，评估封装组合在光伏芯片的吸收谱段的光学透过率之后，所述方法还包括：

检测所述封装组合在吸收谱段的光学透过率；

若评估的光学透过率与检测的光学透过率不匹配，则以所述封装组合的封装参数和所述检测的光学透过率作为所述光学透过率评估模型的机器学习样本。

7.一种光伏芯片封装设计方法，其特征在于，包括：

根据权利要求1-6中任一所述的光学透过率评估方法，评估至少一个封装组合在光伏芯片的吸收谱段的光学透过率；

筛选出满足预设的光学透过率条件的封装组合并作为封装设计优选组合；

根据封装设计优选组合的封装参数对光伏芯片进行封装设计。

8.根据权利要求7所述的光伏芯片封装设计方法，其特征在于，所述筛选出满足预设的光学透过率条件的封装组合，包括：

针对每一种封装组合，根据如下方式判断是否满足预设的光学透过率条件：

针对所述光伏芯片的吸收谱段的每一个波长，判断所述封装组合在所述波长下的光学透过率是否超过预设的目标光学透过率阈值；

若所述封装组合在所述吸收谱段的每一个波长下的光学透过率均超过所述目标光学透过率阈值，则确定所述封装组合满足预设的光学透过率条件。