[发明专利]一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法

说明书

本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLED DeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题；本发明提供的DeMura设备检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法。

技术领域

本发明属于显示面板检测技术领域，更具体地，涉及一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法。

背景技术

由于显示面板生产工艺复杂，Mura缺陷的出现无法避免，但Mura缺陷会直接影响显示面板的质量以及生产良率，因而Mura缺陷的修复是显示面板生产过程中不可或缺的环节。LCD屏的Mura缺陷尺寸较大，可对Mura区域进行分块亮度补偿；而OLED屏由于其自发光、各个像素点独立驱动等特性，其Mura缺陷表现为子像素量级，需要使用比LCD DeMura更精确的Mura缺陷补偿方法。现有OLED DeMura(Mura缺陷补偿)包括图像预处理、子像素点亮度提取、子像素点gamma测量、子像素点电压补偿的流程。Mura缺陷的补偿通过补偿子像素点的驱动电压来实现，而驱动电压的补偿值由基于亮度值计算的gamma值决定，因而在OLEDDeMura技术中，精确提取子像素点的亮度至关重要。

目前一般通过均方根误差RMSE来判断测量精度，但用RMSE评判OLED屏像素点的亮度提取精度存在以下两点局限：一，未考虑子像素点的空间分布关系；二，需要子像素点的亮度参考值；在OLED DeMura技术中，测得的亮度值为相对值，在精确校准前无法基于亮度的参考值计算RMSE。因此，需要一种新的方法来判断像素点的亮度提取精度，以适应OLEDDeMura技术的要求。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，其目的在于实现对OLED子像素点的亮度提取精度的量化以及DeMura设备的检测。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，用白噪声亮度理论值与白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度。

优选地的，上述DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，具体包括以下步骤：

(1)将同一张灰度图在加白噪声与不加白噪声的情况下分别通过DeMura设备进行Mura修复；

(2)获取经过Mura修复得到的两张灰度图的亮度差异值作为所加的白噪声的亮度测量值；

(3)计算白噪声亮度的测量值与理论值之间的自相关系数；

(4)根据该自相关系数判定DeMura设备的亮度提取精度，自相关系数越大，亮度提取精度越高。

优选地，上述DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，当白噪声的测量信号与原始输入信号之间的自相关函数峰值在(0.9，1)，判定子像素点的亮度提取精度满足要求，

为实现发明的目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种DeMura设备噪声检测方法，用白噪声亮度理论值与白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值与调制传递函数来检测DeMura设备的噪声水平。