[发明专利]一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法有效
申请号: | 201910330272.0 | 申请日: | 2019-04-23 |
公开(公告)号: | CN110136212B | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 冯晓帆;刘璐宁;郑增强;张胜森;马尔威;吴红君;袁捷宇;刘荣华 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/90 | 分类号: | G06T7/90;G06T7/00;G06T5/00;G06K9/00;G01N21/95;G01N21/88 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 赵伟 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 demura 设备 像素 亮度 提取 精度 评判 方法 噪声 检测 | ||
1.一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法,其特征在于,用白噪声亮度理论值与所述白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度,所述亮度测量值为同一张灰度图在加白噪声与不加白噪声的情况下分别经过DeMura设备得到的两张灰度图的亮度差异值。
2.如权利要求1所述的DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法,其特征在于,具体包括以下步骤:
(1)将同一张灰度图在加白噪声与不加白噪声的情况下分别通过DeMura设备进行Mura修复;
(2)获取经过Mura修复得到的两张灰度图的亮度差异值作为所加的白噪声的亮度测量值;
(3)计算白噪声亮度的测量值与理论值之间的自相关系数;
(4)根据所述自相关系数判定DeMura设备的亮度提取精度,自相关系数越大,判定所述DeMura设备亮度提取精度越高。
3.如权利要求1所述的DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法,其特征在于,当白噪声的测量信号与所述白噪声原始信号之间的自相关函数峰值在(0.9,1),判定DeMura设备对子像素点的亮度提取精度满足要求。
4.一种DeMura设备噪声检测方法,其特征在于,用白噪声亮度理论值与白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值与调制传递函数来检测DeMura设备的噪声水平,所述亮度测量值为同一张灰度图在加白噪声与不加白噪声的情况下分别经过DeMura设备得到的两张灰度图的亮度差异值。
5.如权利要求4所述的DeMura设备噪声检测方法,其特征在于,当白噪声的测量信号与所述白噪声信号相同或成线性关系,且DeMura设备的调制传递函数无变化,则判定DeMura设备的成像系统无失真。
6.如权利要求4或5所述的DeMura设备噪声检测方法,其特征在于,当所述自相关函数的峰值降为0.9以下,且调制传递函数不变,调制传递函数的频谱平坦,则判定DeMura设备的成像系统存在噪声。
7.如权利要求4或5所述的DeMura设备噪声检测方法,其特征在于,当所述自相关函数的峰值降为0.9以下,且DeMura设备的调制传递函数发生变化,调制传递函数的频谱不平坦,则判定DeMura设备的成像系统存在失真。
8.如权利要求4或5所述的DeMura设备噪声检测方法,其特征在于,根据所述自相关函数的峰值水平来判定DeMura设备噪声的严重程度,所述自相关函数的峰值越小,判定定DeMura设备噪声越严重。
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