[发明专利]一种沉积多晶硅薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201910325184.1 申请日: 2019-04-22
公开(公告)号: CN111834207B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: 叶剑虹;曲利国 申请(专利权)人: 上海新微技术研发中心有限公司
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205
代理公司: 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 代理人: 刘元霞
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 沉积 多晶 薄膜 方法
【权利要求书】:

1.一种沉积多晶硅薄膜的方法,包括:

对于进行过多晶硅沉积的腔体,将该腔体加热到第一预定温度,并向该腔体内通入氮气;以及

将第一衬底放置于所述腔体内,将所述腔体加热到第二预定温度,并向该腔体内通入硅烷气体,以在所述第一衬底表面沉积第一多晶硅薄膜,

所述第一预定温度高于所述第二预定温度,

所述第一预定温度高于620℃,

维持所述腔体的温度在第一预定温度,并向所述腔体内通入氮气的时间为1~3小时。

2.如权利要求1所述的方法,其中,

通入氮气的流量为大于1.5slm。

3.如权利要求1所述的方法,其中,

在将该腔体加热到第一预定温度,并向该腔体内通入氮气之前,所述方法还包括:

将第二衬底放置于所述腔体内,将所述腔体加热到第三预定温度,并向该腔体内通入硅烷气体,以在所述第二衬底表面沉积第二多晶硅薄膜。

4.如权利要求3所述的方法,其中,

所述第三预定温度与所述第二预定温度相同或不同。

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