[发明专利]一种电子元器件外观检测装置

说明书

本发明提供一种电子元器件外观检测装置，包括用于获取待检测的电子元器件的外观图像的图像获取模块、用于对所述外观图像进行处理，获取所述外观图像中包含的电子元器件的轮廓信息的图像处理模块、用于将所述轮廓信息与标准的轮廓信息进行对比，判断所述待检测的电子元器件的外观质量是否合格的外观质量判定模块。本发明通过获取待检测的电子元器件的外观图像来进行外观质量检测，解决了现有技术中依靠人力来检测的方式导致的速度慢和容易误检漏检的问题，极大地提高了生产效率。

技术领域

本发明涉及一种检测装置，具体涉及一种电子元器件外观检测装置。

背景技术

电子市场迅速发展，市场上的电子元器件种类多，数量大，一些对外观都要求的电子元器件，目前还处于通过人工目测来进行外观检测的阶段。但是因为需要检测的项目过多，再加上个人观点偏差的影响，在负责监测的工人长时间工作后，这就往往会导致监测速度过慢，误判几率增加。

发明内容

针对上述问题，本发明提供了一种电子元器件外观检测装置。

本发明的目的采用以下技术方案来实现：

一种电子元器件外观检测装置，该装置包括图像获取模块、图像处理模块和外观质量判定模块；

所述图像获取模块用于获取待检测的电子元器件的外观图像，并将其发送至图像处理模块；

所述图像处理模块用于对所述外观图像进行处理，获取所述外观图像中包含的电子元器件的轮廓信息，并将所述轮廓信息发送至外观质量判定模块；

所述外观质量判定模块用于将所述轮廓信息与标准的轮廓信息进行对比，判断所述待检测的电子元器件的外观质量是否合格。

优选地，所述电子元器件外观检测装置还包括存储模块和信息更新模块，所述信息更新模块与云服务器相连接，所述云服务器上存储着电子元器件的标准轮廓信息以及质量合格标准，所述信息更新模块按照预定的更新间隔，将所述标准轮廓信息以及质量合格标准下载到所述存储模块，并将旧的标准轮廓信息以及质量合格标准进行删除，所述存储模块与所述外观质量判定模块电性连接。

优选地，所述图像获取模块包括一照明单元，所述照明单元用于在光照不足时为所述图像获取模块提供光照。

优选地，所述图像处理模块包括图像增强单元、灰度值调整单元、二值化处理单元和轮廓提取单元；

所述图像增强单元，用于对所述外观图像进行图像增强处理；

所述灰度值调整单元，用于对经过图像增强处理的外观图像进行灰度值调整；

所述二值化处理单元用于对经过灰度值调整的外观图像进行二值化处理；

所述轮廓提取单元用于对经过二值化处理的外观图像进行轮廓提取。

优选地，所述图像增强单元包括第一处理子单元、第二处理子单元、第三处理子单元和第四处理子单元；

所述第一处理子单元用于对所述外观图像进行小波分解，获取其高频系数和低频系数；

所述第二处理子单元用于采用自定义的函数对所述高频系数进行处理，获得经过处理的高频系数；

所述第三处理子单元用于采用自定义的算法对低频系数进行处理，获得经过处理的低频系数和第二高频系数；

所述第四处理子单元用于根据经过处理的高频系数和第二高频系数，通过重构获得图像增强后的外观图像。

优选地，所述对所述外观图像进行小波分解，获取其高频系数和低频系数，包括：

采用下述式子对所述外观图像进行灰度化处理：