[发明专利]存储器管理方法、存储器控制电路单元及存储器存储装置

权利要求书

1.一种存储器管理方法，用于可复写式非易失性存储器模块，其中所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体抹除单元，每一所述多个实体抹除单元包括多个实体程序化单元，所述存储器管理方法包括：

记录每一所述多个实体抹除单元中每一上实体程序化单元的错误比特数目以及每一下实体程序化单元的错误比特数目；

根据所述多个实体抹除单元中的第一实体抹除单元的所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的分布以及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的分布，判断所述第一实体抹除单元是否为坏实体抹除单元；以及

倘若判断所述第一实体抹除单元为所述坏实体抹除单元时，对所述第一实体抹除单元上的数据执行数据搬移操作。

2.根据权利要求1所述的存储器管理方法，其中根据所述多个实体抹除单元中的第一实体抹除单元的所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的分布以及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的分布判断所述第一实体抹除单元是否为所述坏实体抹除单元的步骤包括：

分别计算每一所述多个实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的平均值以及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的平均值；以及

倘若所述第一实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的所述平均值大于所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的所述平均值时，判断所述第一实体抹除单元为所述坏实体抹除单元。

3.根据权利要求1所述的存储器管理方法，还包括：

记录每一所述多个实体抹除单元中每一中实体程序化单元的错误比特数目；

其中根据所述多个实体抹除单元中的第一实体抹除单元的所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的分布以及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的分布判断所述第一实体抹除单元是否为所述坏实体抹除单元的步骤包括：

根据所述多个实体抹除单元中的所述第一实体抹除单元的所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的分布、所述多个中实体程序化单元的错误比特数目的分布以及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的分布，判断所述第一实体抹除单元是否为坏实体抹除单元。

4.根据权利要求3所述的存储器管理方法，其中根据所述多个实体抹除单元中的所述第一实体抹除单元的所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的分布、所述多个中实体程序化单元的错误比特数目的分布以及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的分布，判断所述第一实体抹除单元是否为坏实体抹除单元的步骤包括：

分别计算每一所述多个实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的平均值、所述多个中实体程序化单元的错误比特数目的平均值以及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的平均值；以及

倘若所述第一实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的所述平均值大于所述多个中实体程序化单元的错误比特数目的所述平均值，并且所述多个中实体程序化单元的错误比特数目的所述平均值大于所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的所述平均值时，判断所述第一实体抹除单元为所述坏实体抹除单元。

5.根据权利要求3所述的存储器管理方法，其中所述存储器管理方法还包括：

根据方程式(1)，分别获取每一所述多个实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元的错误比特数目的分布、所述多个中实体程序化单元的错误比特数目的分布以及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的分布，

其中，μ为每一所述多个实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元、所述多个中实体程序化单元及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的平均值，σ为每一所述多个实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元、所述多个中实体程序化单元及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的标准差，σ²为每一所述多个实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元、所述多个中实体程序化单元及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目的方差，x为每一所述多个实体抹除单元中所述多个上实体程序化单元、所述多个中实体程序化单元及所述多个下实体程序化单元的错误比特数目。