[发明专利]一种固态硬盘的测试装置及方法

权利要求书

1.一种固态硬盘的测试装置，其特征在于，包括：

主板，所述主板上具有至少两个PCIE x4通道，每个PCIE x4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组；

固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接；

所述固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接包括：

所述选择芯片具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口；

当所述固态硬盘为一个时，所述固态硬盘的一端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组，所述固态硬盘的另一端口连接至所述选择芯片的非选择端口，所述选择芯片的第一选择端口连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组，所述选择芯片的第二选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组。

2.如权利要求1所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于，当所述固态硬盘为两个时，两个所述固态硬盘通过多个所述选择芯片分别与主板上的三个通道组连接。

3.如权利要求2所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于：

第一固态硬盘的一端口通过第一选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组；第一固态硬盘的另一端口通过第二选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组，以及，依次通过第二选择芯片和第三选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；

第二固态硬盘的一端口通过第三选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；第二固态硬盘的另一端口通过第四选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的另一个通道组，以及，依次通过第四选择芯片和第一选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组。

4.如权利要求3所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于：

第一固态硬盘的一端口连接至第一选择芯片的第一选择端口，第一选择芯片的非选择端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组；

第一固态硬盘的另一端口连接至第二选择芯片的非选择端口，第二选择芯片的第一选择端口连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组；第二选择芯片的第二选择端口连接至第三选择芯片的第一选择端口，第三选择芯片的非选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组。

5.如权利要求3所述的固态硬盘的测试装置，其特征在于：

第二固态硬盘的一端口连接至第三选择芯片的第二选择端口，第三选择芯片的非选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组；

第二固态硬盘的另一端口连接至第四选择芯片的非选择端口，第四选择芯片的第一选择端口连接至第二PCIE x4通道中的另一个通道组；第四选择芯片的第二选择端口连接至第一选择芯片的第二选择端口，第一选择芯片的非选择端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组。

6.一种应用于权利要求1所述的固态硬盘的测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

当测试固态硬盘的单端口模式时，导通选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组的端口；

当测试固态硬盘的双端口模式时，导通选择芯片连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组的端口。

7.一种应用于权利要求4所述的固态硬盘的测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

当测试第一固态硬盘的单端口模式时，导通第一选择芯片的第一选择端口和第二选择芯片的第一选择端口；

当测试第一固态硬盘的双端口模式时，导通第一选择芯片的第一选择端口、第二选择芯片的第二选择端口和第三选择芯片的第一选择端口。

8.一种应用于权利要求5所述的固态硬盘的测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

当测试第二固态硬盘的单端口模式时，导通第三选择芯片的第二选择端口和第四选择芯片的第一选择端口；

当测试第二固态硬盘的双端口模式时，导通第三选择芯片的第二选择端口、第四选择芯片的第二选择端口和第一选择芯片的第二选择端口。