[发明专利]一种固态硬盘的测试装置及方法

说明书

本发明公开了一种固态硬盘的测试装置及方法，涉及固态硬盘测试领域，该测试装置包括：主板，所述主板上具有至少两个PCIE x4通道，每个PCIE x4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组；固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接。本发明采用常规的主板和通用的选择芯片组成的测试装置只需导通选择芯片不同的连接关系即可实现固态硬盘不同模式时PCIE通道的需求，切换时无需重新更新配置文件，切换时间较短，提高了测试效率；且无需特别零件的定制，成本低廉，易于推广。

技术领域

本发明涉及固态硬盘测试领域，尤其涉及一种固态硬盘的测试装置及方法。

背景技术

随着技术的发展，固态硬盘(Solid State Disk，SSD)可配置成单端口(SinglePort)模式，也可配置成双端口(Dual Port)模式，在制造出具有这两种模式的SSD后，就需要对其进行这两种模式的测试。

SSD配置成双端口模式时需要两个独立的PCIE x2(总线数为2的PCIE总线，PCIE的中文含义是外围组件互联表达)通道(lane)，配置成单端口模式时需要一个独立的PCIE x4(总线数为4的PCIE总线)通道。目前通用的X86(英特尔公司生产的一种处理器)或ARM CPU/SOC(精简指令集微处理器/系统级芯片)原生的PCIE(Peripheral ComponentInterconnect Express，外围组件互联表达)根节点最小可配置单元为x4通道，也就是说，测试单端口模式时使用的独立的PCIE x4通道不可以配置为两个独立的PCIE x2通道来支持双端口模式。

针对这种方式，当前SSD专业测试设备制造商都是采用开发专用FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)的方式来实现，即此FPGA使用不同的配置文件，使PCIE根节点最小可配置单元在x2和x4之间切换。

这些测试方案的主要弊端是开发成本太高，测试过程中切换SSD模式(即，从测试单端口模式切换至测试双端口模式，或从测试双端口模式切换至测试单端口模式)时需要重新更新FPGA的配置文件，整个耗费的切换时间会比较长，影响测试效率，且测试设备是专门定制，成本高昂。

发明内容

本发明的目的是提供一种固态硬盘的测试装置及方法，无需专门定制测试设备，采用通用的零件组成测试装置，降低成本，且测试固态硬盘的不同模式时，无需重新更新配置文件，切换时间较短，提高测试效率。

本发明提供的技术方案如下：

一种固态硬盘的测试装置，包括：主板，所述主板上具有至少两个PCIE X4通道，每个PCIE x4通道中前两个通道和后两个通道分别作为两个通道组；固态硬盘通过选择芯片与主板上的三个通道组连接。

在上述技术方案中，采用常规的主板和通用的选择芯片组成的测试装置只需导通选择芯片不同的连接关系即可实现固态硬盘不同模式时PCIE通道的需求，切换时无需重新更新配置文件，切换时间较短，提高了测试效率；且无需特别零件的定制，成本低廉，易于推广。

进一步，当所述固态硬盘为一个时，所述固态硬盘的一端口连接至第一PCIE x4通道中的一个通道组，所述固态硬盘的另一端口通过选择芯片连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组和第二PCIE x4通道中的一个通道组。

在上述技术方案中，仅采用了一个二选一功能的选择芯片即可在常规主板上实现对固态硬盘的不同模式的测试，成本低廉，切换灵活，执行效率高。

进一步，所述选择芯片具有一个非选择端口和可二选一的第一选择端口、第二选择端口；所述固态硬盘的另一端口连接至所述选择芯片的非选择端口，所述选择芯片的第一选择端口连接至第一PCIE x4通道中的另一个通道组，所述选择芯片的第二选择端口连接至第二PCIE x4通道中的一个通道组。