[发明专利]质控/校准测试方法、样本分析仪及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种质控/校准测试方法，应用于样本分析仪，其特征在于，所述样本分析仪包括具有多个试剂保存位并且构成用于冷藏试剂的试剂仓，在该试剂仓内还设有用于保存质控/校准品的质控/校准品保存位，所述方法包括：

获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令；

获取待测质控/校准品的特征信息以及获取所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息；

根据所述特征信息和所述位置信息，控制吸样针移动到所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品；

利用所述指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述质控/校准品保存位构成为所述多个试剂保存位中的至少一个试剂保存位，或者构成为独立于所述多个试剂保存位的保存位。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述获取待测质控/校准品的特征信息的步骤包括：

通过人机交互获得待测质控/校准品的特征信息；或者，

通过扫描装置扫描所述待测质控/校准品的容器的标识部获得待测质控/校准品的特征信息。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述获取所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息的步骤包括：

通过人机交互预先设定所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位，从而获得所述位置信息；或者，

通过扫描装置获得所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述待测质控/校准品的特征信息包括质控/校准品名称、生产日期、有效期、总量中的至少一种。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，在控制吸样针吸取指定量的待测质控/校准品之后，所述方法还包括：

获取并存储所述待测质控/校准品的余量信息。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取并存储所述待测质控/校准品的余量信息的步骤包括：

通过所述待测质控/校准品的总量和所述指定量，确定并且与所述待测质控/校准品的特征信息相关联地存储所述余量信息；或者

通过检测所述待测质控/校准品的当前液面高度，确定并且与所述待测质控/校准品的特征信息相关联地存储所述余量信息。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，在获取并存储所述待测质控/校准品的余量信息之后，所述方法还包括：

根据所述余量信息判断所述待测质控/校准品是否足以用于下一次质控/校准测试；

当所述待测质控/校准品不足以用于下一次质控/校准测试时，输出质控/校准品不足的报警信号和/或输出更换所述待测质控/校准品的提示信息。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，所述获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令的步骤包括：

预先设置所述待测试质控/校准品的质控/校准测试时刻；

获取所述样本分析仪的系统时间；

当检测出所述样本分析仪的系统时间到达所述质控/校准时刻时，则获取到所述质控/校准测试指令。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，在获取待测质控/校准品的特征信息之后，并且在控制吸样针吸取待测质控/校准品之前，所述方法还包括：

获取所述样本分析仪的系统时间；

根据所述系统时间和所述待测质控/校准品的特征信息中的生产日期和有效期，确定所述待测质控/校准品是否在有效期内；

当所述待测质控/校准品不在有效期内时，输出所述待测质控/校准品过期的报警信号和/或输出更换所述待测质控/校准品的提示。