[发明专利]发光二极管检测电路及装置

权利要求书

1.一种发光二极管检测电路，其特征在于，包括：第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块；

所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第一端用于连接电源，所述第三开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块的第一端用于接地，所述第四开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块连接。

2.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一开关模块的工作状态与所述第四开关模块的工作状态相同，所述第二开关模块的工作状态与所述第三开关模块的工作状态状态相同，且所述第一开关模块的工作状态与所述第二开关模块的工作状态相异。

3.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的正相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接。

4.根据权利要求1-3任一项中所述的发光二极管检测电路，其特征在于，还包括控制模块，所述控制模块分别与所述第一开关模块的控制端、所述第二开关模块的控制端、所述第三开关模块的控制端及所述第四开关模块的控制端连接。

5.根据权利要求4所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一开关模块、所述第二开关模块、所述第三开关模块及所述第四开关模块中至少一个为场效应管，所述场效应管的栅极与所述控制模块连接。

6.根据权利要求5所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一开关模块及所述第三开关模块均为PMOS管，所述第二开关模块及所述第四开关模块均为NMOS管。

7.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，还包括处理模块，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述处理模块的输入端连接，所述处理模块的输出端与所述指示模块连接。

8.根据权利要求7所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述指示模块包括显示屏，所述显示屏与所述处理模块的输出端连接。

9.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一比较器U1、第二比较器U2及第三比较器U3均为电压比较器。

10.一种发光二极管检测装置，其特征在于，包括两个探针、支撑架及如权利要求1至9任一项中所述的发光二极管检测电路，所述探针设置于所述支撑架上，所述采样电阻R1的第二端用于通过一所述探针与所述待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第二端用于通过另一所述探针与所述待测发光二极管的负极连接。