[发明专利]一种阵列基板及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910260551.4 申请日: 2019-04-02
公开(公告)号: CN110047848B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 陈杰 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,其特征在于,包括

基板;

形成于所述基板上的栅极层;

形成于所述栅极层上的栅极绝缘层;

形成于所述栅极绝缘层上的源漏极层;

形成于所述源漏极层上的有源层;

其中,所述源漏极层包括源极区域、漏极区域以及沟道区域,所述源极区域、所述漏极区域以及所述沟道区域同层设置,且所述沟道区域位于所述源极区域与所述漏极区域之间;所述沟道区域由所述源漏极层掺杂形成且绝缘。

2.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述源漏极层的材料为金属。

3.如权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述源极区域和所述漏极区域的金属材料为铝,所述沟道区域的材料为氧化铝。

4.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述有源层为半导体材料。

5.如权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,所述有源层的材料为多晶硅。

6.一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括:

提供基板;

在所述基板上形成栅极层;

在所述栅极层上形成栅极绝缘层;

在所述栅极绝缘层上形成源漏极层;

处理所述源漏极层,形成同层设置的源极区域、漏极区域以及沟道区域,所述沟道区域位于所述源极区域与所述漏极区域之间,且所述沟道区域由所述源漏极层掺杂形成且绝缘;

在所述源漏极层上形成有源层;

在所述有源层上形成钝化层。

7.如权利要求6所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,所述处理所述源漏极层,形成源极区域、漏极区域、以及沟道区域的步骤包括:

图案化处理所述源漏极层,形成电路区;

对所述电路区掺杂形成源极区域、漏极区域、以及沟道区域。

8.如权利要求7所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,所述对所述电路区掺杂形成源极区域、漏极区域、以及沟道区域的步骤包括:

确定掺杂区;

对所述掺杂区进行掺杂,形成所述沟道区域,进而确定所述源极区域和所述漏极区域。

9.如权利要求8所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,所述确定掺杂区的步骤包括:

在所述源漏极层上形成图案化的光阻层,所述图案化的光阻层在所述源漏极层上围出掺杂区。

10.如权利要求8所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,所述对所述掺杂区进行掺杂的步骤包括:

通过加热氧化或是等离子氧化手段,对所述掺杂区的金属进行氧化处理,将所述掺杂区的金属氧化为绝缘的金属氧化物。

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