[发明专利]图像处理方法及装置、存储介质及图像设备有效

专利信息
申请号: 201910251038.9 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN110147809B 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 侯晓辉 申请(专利权)人: 亮风台(北京)信息科技有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 代理人: 陈贞健;姜伯炎
地址: 100089 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 方法 装置 存储 介质 设备
【权利要求书】:

1.一种图像处理方法,包括:

获取第一图像的第一特征点集;

获取第二图像的第二特征点集;

以至少两个特征点为一个匹配单位,进行所述第一特征点集和第二特征点集中特征点的匹配,获得匹配参数;其中,所述以至少两个特征点为一个匹配单位,进行所述第一特征点集和第二特征点集中特征点的匹配,包括:以所述第一特征点集中的至少两个特征点为一个匹配单位,将以第二特征点集中的至少两个特征点为一个匹配单位,进行两个匹配单位之间的匹配;

根据所述匹配参数,确定第二图像的曲面形变,包括:步骤A1:根据备选曲面形变及所述匹配参数,确定所述第一特征点集和所述第二特征点集中匹配单位的匹配误差;步骤A3:若所述匹配误差未满足收敛条件或未达到最大迭代次数,根据所述匹配误差,更新所述第二图像的备选曲面形变,包括:基于所述匹配误差进行备选曲面形变优化的松弛问题求解,以优化所述备选曲面形变;步骤A4:根据所述备选曲面形变更新所述匹配参数,并返回步骤A1。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述以至少两个特征点为一个匹配单位,进行所述第一特征点集和第二特征点集中特征点的匹配,获得匹配参数,包括:

以两个特征点形成的特征点对为一个匹配单位,进行所述第一特征点集和第二特征点集中特征点的匹配,获得指示特征点对之间匹配状况的匹配参数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

获取所述第一特征点集和第二特征点集中单点软匹配的第一匹配参数;

所述以两个特征点为一个匹配单位,进行所述第一特征点集和第二特征点集中的特征点的匹配,获得匹配参数,包括:

以两个特征点为一个匹配单位,基于所述第一匹配参数获得所述匹配单位的第二匹配参数。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取所述第一特征点集和第二特征点集中单点软匹配的第一匹配参数,包括:

确定第一特征点集中第一特征点和所述第二特征点集中第二特征点单点匹配的匹配概率。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取所述第一特征点集和第二特征点集中单点软匹配的第一匹配参数,还包括:

基于所述匹配概率,生成匹配矩阵。

6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述以两个特征点为一个匹配单位,基于所述第一匹配参数获得所述匹配单位的第二匹配参数,包括:

以至少两个特征点为一个匹配单位,基于所述第二图像初始的备选曲面形变进行所述第一特征点集和所述第二特征点集中特征点的匹配,在所述第一匹配参数中选择出所述第二匹配参数,其中,所述第二图像初始的备选曲面形变为所述第一图像的曲面形变。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述匹配参数,确定第二图像的曲面形变,还包括:

步骤A2:若所述匹配误差满足收敛条件或达到最大迭代次数时停止迭代,并在停止迭代时获得的所述备选曲面形变作为最终的曲面形变输出。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述备选曲面形变及所述匹配参数,确定所述第一特征点集和所述第二特征点集中匹配单位的匹配误差,包括:

确定第一匹配单位和第二匹配单位的匹配概率,其中,所述第一匹配单位包括多个第一特征点,所述第一特征点为所述第一特征点集的特征点;所述第二匹配单位包括多个第二特征点,所述第二特征点为所述第二特征点集的特征点;

确定第一匹配单位和第二匹配单位的一致性;

基于所述一致性,确定匹配误差。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述确定所述第一特征点集中第一匹配单位和第二特征点集中第二匹配单位的一致性,包括:

确定所述第一匹配单位和所述第二匹配单位的外观一致性;

确定所述第一匹配单位和所述第二匹配单位的几何一致性。

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