[发明专利]自动检测方法、装置及电子设备在审

专利信息
申请号: 201910207142.8 申请日: 2019-03-19
公开(公告)号: CN109933531A 公开(公告)日: 2019-06-25
发明(设计)人: 吴万馨 申请(专利权)人: 湖南国科微电子股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F11/22
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 郭俊霞
地址: 410000 湖南省长沙市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 编程器件 匹配 配置参数 自动检测 测试 装置及电子设备 测试用例池 输出 测试用例发送 自动检测过程 电路检测 检测结果 运行测试 重复执行 发送
【权利要求书】:

1.一种自动检测方法,应用于与编程器件连接的电子设备,其特征在于,所述方法包括:

依据获取的配置参数和预先设置的测试用例池得到测试用例,其中所述测试用例池用于存储所述测试用例;

依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例,其中所述匹配用例池用于存储所述匹配用例;

将所述测试用例发送至所述编程器件,以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出;

接收所述编程器件发送的所述测试输出,并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比,生成检测结果。

2.如权利要求1所述的自动检测方法,其特征在于,所述依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例的步骤包括:

依据所述配置参数得到第一标识符;

若所述测试用例池中存在具有所述第一标识符的所述测试用例,则取出所述测试用例。

3.如权利要求1所述的自动检测方法,其特征在于,所述依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例的步骤还包括:

依据所述配置参数得到第一标识符;

若所述测试用例池中不存在具有所述第一标识符的所述测试用例,则依据所述配置参数生成所述测试用例;

将所述测试用例放入所述测试用例池中。

4.如权利要求1所述的自动检测方法,其特征在于,所述依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例的步骤包括:

依据所述配置参数得到第二标识符;

若所述匹配用例池中存在具有所述第二标识符的所述匹配用例,则取出所述匹配用例。

5.如权利要求1所述的自动检测方法,其特征在于,所述依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例的步骤还包括:

依据所述配置参数得到第二标识符;

若所述匹配用例池中不存在具有所述第二标识符的所述匹配用例,则运行所述测试用例得到所述匹配用例;

将所述匹配用例放入所述匹配用例池中。

6.一种自动检测装置,应用于与编程器件连接的电子设备,其特征在于,所述装置包括:

测试用例生成模块,用于依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例,其中所述测试用例池用于存储所述测试用例;

匹配用例生成模块,用于依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例,其中所述匹配用例池用于存储所述匹配用例;

发送模块,用于将所述测试用例发送至所述编程器件,以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出;

处理模块,用于接收所述编程器件发送的所述测试输出,并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比,生成检测结果。

7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述测试用例生成模块具体用于:

依据配置参数得到第一标识符;

若所述测试用例池中存在具有所述第一标识符的所述测试用例,则取出所述测试用例。

8.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述测试用例生成模块具体还用于:

依据配置参数得到第一标识符;

若所述测试用例池中不存在具有所述第一标识符的所述测试用例,则依据所述配置参数生成所述测试用例,并将所述测试用例放入所述测试用例池中。

9.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述匹配用例生成模块具体用于:

依据所述配置参数得到第二标识符;

若所述匹配用例池中存在具有所述第二标识符的所述匹配用例,则取出所述匹配用例。

10.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:

存储器;

处理器,所述处理器包括第一处理单元和第二处理单元,所述第一处理单元用于执行依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例的步骤,所述第二处理单元用于执行依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例的步骤;

所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1-5任一所述方法的步骤。

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