[发明专利]自动检测方法、装置及电子设备

说明书

本发明实施例提出一种自动检测方法、装置及电子设备，涉及电路检测领域。本发明实施例所提供了一种自动检测方法、装置及电子设备，方法包括，依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例；依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例。使得在编程器件的自动检测过程中需要重复执行相同的测试用例和对比相同的匹配用例时，可以直接从测试用例池中依据配置参数得到已经执行过的测试用例，从匹配用例池中依据配置参数得到对比过的匹配用例，将测试用例发送至编程器件，以使编程器件运行测试用例得到测试输出；接收编程器件发送的测试输出，并依据测试输出和匹配用例进行对比生成检测结果。从而完成编程器件的自动检测。

技术领域

本发明涉及电路检测领域，具体而言，涉及一种自动检测方法、装置及电子设备。

背景技术

随着编程器件容量和规模的日益扩大，如FPGA、PAL、GAL、CPLD等可编程器件应用也越来越广泛，为了保证基于编程器件工程的正确性，需要大量的测试用例来验证。目前的测试一般分为手工测试和自动化测试。在需要大批量的进行测试的时候，自动化就是很有必要的。自动化检测为先依据预设的配置参数生成测试用例，编程器件运行测试用例得到测试输出，PC运行测试用例得到匹配用例，经过对比测试输出和匹配用例来验证编程器件工程的正确性。

但在编程器件上进行自动化测试的时候，通常是需要大量的用例来验证结果的正确性，并且要重复对一个用例进行多次验证以确保错误没有随机性，当进行错误随机性的验证测试的时候，通常会重复执行指定的测试用例，按照传统的做法，将会再次生成之前已经存在的测试用例和匹配用例。当测试匹配用例的生成需要花费较长时间时，会因为重复生成导致的大量时间的资源的浪费。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种自动检测方法、装置及电子设备，以解决上述问题。

为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提出一种自动检测方法，应用于与编程器件连接的电子设备，所述方法包括依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例，其中所述测试用例池用于存储所述测试用例；依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例，其中所述匹配用例池用于存储所述匹配用例；将所述测试用例发送至所述编程器件，以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出；接收所述编程器件发送的所述测试输出，并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比，生成检测结果。

第二方面，本发明实施例还提出一种自动检测装置，应用于与编程器件连接的电子设备，所述装置包括测试用例生成模块，用于依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例，其中所述测试用例池用于存储所述测试用例；匹配用例生成模块，用于依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例，其中所述匹配用例池用于存储所述匹配用例；发送模块，用于将所述测试用例发送至所述编程器件，以使所述编程器件运行所述测试用例得到测试输出；处理模块，用于接收所述编程器件发送的所述测试输出，并依据所述测试输出和所述匹配用例进行对比，生成检测结果。

第三方面，本发明实施例还提出一种电子设备，包括：存储器；处理器，所述处理器包括第一处理单元和第二处理单元，所述第一处理单元用于执行依据获取的配置参数和测试用例池得到测试用例的步骤，所述第二处理单元用于执行依据获取的配置参数和匹配用例池得到匹配用例的步骤；所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时自动检测方法的步骤。