[发明专利]图像处理方法及装置、检测设备及存储介质

权利要求书

1.一种图像处理方法，其特征在于，包括：

确定目标在所述图像中的目标区域；

从所述目标区域提取出第一类特征，其中，所述第一类特征，包括所述目标的图像特征；

根据同一个目标在前后两帧图像的分布，得到第二类特征；

将第t+1帧图像的第一类特征和第t帧图像的第一类特征进行匹配，得到第一差分信息；将第t+1帧图像相对于第t帧图像的第二类特征，和所述第t帧图像相对于所述第t-1帧图像得到第二类特征进行匹配，得到第二差分信息；根据所述第一差分信息和所述第二差分信息，得到所述第t+1帧图像中的目标与第t帧图像中对应目标之间的对应关系。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第二类特征包括：

第t帧图像中一个目标的关键点指向第t+1帧图像对应目标的中心点的矢量，和/或，

第t+1帧图像的目标的关键点指向第t帧图像对应目标的中心点的矢量，t为自然数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根据所述第一差分信息和所述第二差分信息，得到所述第t+1帧图像中的目标与第t帧图像中对应目标之间的对应关系，包括：

将第t+1帧图像中第一目标的第一差分信息和所述第一目标的所述第二差分信息，进行加权求和得到求和值；

确定最小所述求和值对应的所述第t+1帧图像的第一目标和第t帧图像的第二目标为同一个目标。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述从所述目标区域提取出第一类特征，包括：

对所述目标区域进行残差处理获得残差特征；

基于所述残差特征，得到所述第一类特征。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述目标区域进行残差处理获得残差特征，包括：

利用第一残差层对所述目标区域进行残差处理，得到第一残差特征；

利用第二残差层对所述第一残差特征进行残差处理，得到第二残差特征；

利用第三残差层对所述第二残差特征进行残差处理，得到第三残差特征；

利用第四残差层对所述第三残差特征进行残差处理，得到第四残差特征；

所述基于所述残差特征，得到所述第一类特征，包括：

基于所述第四残差特征，得到所述图像特征。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述利用第一残差层对所述目标区域进行残差处理，得到第一残差特征，包括：

利用包括N1个第一残差模块的第一残差子层对所述目标区域进行残差处理，得到一次残差特征；

利用包括N2个第二残差模块的第二残差子层对所述一次残差特征进行残差处理，得到二次残差特征，N1为正整数；N2为正整数；

结合所述一次残差特征和所述二次残差特征，得到所述第一残差特征。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述基于所述第四残差特征，得到所述图像特征，包括：

对所述第四残差特征进行池化处理得到池化后的特征；

基于所述池化后的特征，得到所述图像特征。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述基于所述池化后的特征，得到所述图像特征，包括：

将所述第四残差特征进行第一池化处理得到的第一池化特征与所述第二残差特征进行全连接得到第一特征；

将所述第四残差特征进行第二池化处理得到第二特征；

拼接所述第一特征和所述第二特征得到所述图像特征。

9.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据同一个目标在前后两帧图像的分布，得到第二类特征，包括：

从前后两帧图像中分别获得两个第三类特征，其中，所述第三类特征包括：编码了同一个目标内部关键点的空间位置信息且能够区分不同目标的特征；

基于两个所述第三类特征，生成所述第二类特征。