[发明专利]一种塑料管道热熔对接接头超声相控阵检测扫查方式在审
申请号: | 201910186643.2 | 申请日: | 2019-03-12 |
公开(公告)号: | CN109975410A | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 施建峰;姚日雾;秦胤康;郑津洋 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01N29/22 |
代理公司: | 杭州中成专利事务所有限公司 33212 | 代理人: | 周世骏 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫查 超声相控阵检测 检测 延迟 热熔对接 塑料管道 焦点 聚焦 长度计算 过程参数 检测区域 检测主机 接头检测 缺陷成像 热熔接头 设置检测 输入检测 移动探头 灵敏度 全覆盖 智能化 卷边 分辨 主机 自动化 测量 重复 | ||
1.一种塑料管道热熔对接接头超声相控阵检测扫查方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)接头检测准备
选择扫查频率与塑料管道厚度相匹配的相控阵探头,将其与超声相控阵检测主机连接;在接头卷边附近涂覆耦合剂,然后安放相控阵探头;
(2)测量热熔接头单个卷边的宽度,将其作为扫查长度输入检测主机,然后在检测主机上设置检测参数;
(3)计算固定深度间距扫查延迟法则,使焦点全部位于对接检测平面:
(3.1)聚焦长度计算
根据扫查长度和探头参数,计算出聚焦长度,即对接平面与探头中心的距离;
(3.2)扫查角度和延迟法则计算
对于某条扫查线而言,其焦点位于对接平面上,根据焦点距离管道外表面的深度计算聚焦半径和扫查角度;获得聚焦半径后,计算出当前扫查线激活孔径各阵元的延迟时间;存储当前扫查线阵元延迟时间和扫查线角度;
(3.3)改变扫查线焦点深度,重复步骤(3.2),直至焦点深度大于扫查结束深度,获得当前检测参数下的固定深度间距扫查延迟法则;
(4)检测缺陷成像
根据步骤(3)计算得到的延迟法则激励相控阵探头,使焦点全部位于对接检测平面,进而提高对接平面处的声能;检测主机根据回波信号和扫查线角度进行缺陷成像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(2)中设置的检测参数包括:激活孔径的阵元数目、扫查起始深度、扫查结束深度和扫查深度步进。
3.一种塑料管道热熔对接接头超声相控阵检测扫查方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)接头检测准备
选择扫查频率与塑料管道厚度相匹配的相控阵探头,将其与超声相控阵检测主机连接;在接头卷边附近涂覆耦合剂,然后安放相控阵探头;
(2)测量热熔接头单个卷边的宽度,将其作为扫查长度输入检测主机,然后在检测主机上设置检测参数;
(3)计算固定角度间距扫查延迟法则,使焦点全部位于对接检测平面:
(3.1)聚焦长度计算
根据扫查长度和探头参数,计算出聚焦长度,即对接平面与探头中心的距离;
(3.2)扫查角度和延迟法则计算
对于某条扫查线,其焦点位于对接平面上,根据聚焦长度和扫查线角度计算聚焦半径;获得聚焦半径后,计算出当前扫查线激活孔径各阵元的延迟时间;存储当前扫查线阵元延迟时间和扫查线角度;
(3.3)改变扫查线角度,重复步骤(3.2),直至扫查线角度大于扫查结束角度,获得当前检测参数下的固定角度间距扫查法则;
(4)检测缺陷成像
根据步骤(3)计算得到的延迟法则激励相控阵探头,使焦点全部位于对接检测平面,进而提高对接平面处的声能;检测主机根据回波信号和扫查线角度进行缺陷成像。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(2)中设置的检测参数包括:激活孔径的阵元数目、扫查起始角度、扫查结束角度和扫查角度步进。
5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法,其特征在于,所述步骤(1)中,在涂覆耦合剂之前先对塑料管道热熔接头的表面质量进行检查,清除管道表面污渍。
6.根据权利要求1至4任意一项所述的方法,其特征在于,所述步骤(1)中,在将相控阵探头与超声相控阵检测主机连接后,获得阵元宽度、阵元间隙和阵元中心频率。
7.根据权利要求1至4任意一项所述的方法,其特征在于,所述步骤(4)中,为辅助检测,在缺陷成像图谱的聚焦长度两侧设置辅助检测线,用于标记焊缝区域。
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