[发明专利]一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法及系统在审
申请号: | 201910164716.8 | 申请日: | 2019-03-05 |
公开(公告)号: | CN110007334A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 刘立业;赵日;肖运实;曹勤剑;汪屿;金成赫;赵原;夏三强;卫晓峰;潘红娟;李晓敦;刘一聪;熊万春 | 申请(专利权)人: | 中国辐射防护研究院 |
主分类号: | G01T1/36 | 分类号: | G01T1/36;G01T1/40 |
代理公司: | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 田明;于春洋 |
地址: | 030006 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 全能峰 峰区域 高斯函数 误差函数 射线能谱 基底 能谱 计算方法及系统 定量分析 计算误差 数据拟合 道基 | ||
本发明公开了一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法及系统,方法包括:S1、对γ射线能谱中重峰区域的每个全能峰,将每个全能峰的净计数部分表示为高斯函数,将每个全能峰的的基底部分表示为余误差函数,将每个全能峰表示为对应的高斯函数与对应的余误差函数之和;S2、对重峰区域的能谱进行数据拟合,计算得到每个高斯函数和每个余误差函数中的各待定参数值;S3、根据每个高斯函数和每个余误差函数中的各待定参数值,计算得到重峰区域的各道基底计数。本发明所提供的方法及系统,能够降低γ能谱重峰区域全能峰基底的计算误差,提高γ能谱定量分析准确性。
技术领域
本发明涉及核技术利用、辐射探测、辐射防护领域,具体涉及一种γ射 线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法及系统。
背景技术
γ能谱是放射性核素发射的γ射线在探测器中沉积能量而形成的信号计 数按信号幅值进行统计的分布图。由于信号幅值与γ射线在探测器中沉积的 能量成正比,因此γ能谱也即γ射线计数按能量的统计分布图。该分布图是 离散的,其横坐标是能量区间,或称为“道”。各道通常以自然数进行标号, 该标号被称为“道址”,即道的地址。
γ能谱分析是获知样品中放射性物质种类与含量的重要途径,而这主要 借助γ能谱中的峰结构来实现。γ能谱中的峰被称为全能峰或光电峰,是由 γ射线在探测器中发生光电效应损失全部能量而形成的。全能峰一般以峰中 心为对称轴左右对称,整体呈高斯函数形态。当相邻两个或多个全能峰在道 址上有重叠时,被称为重峰。全能峰与样品中放射性核素间存在确定的定量 关系:全能峰峰中心能量对应核素γ射线能量,全能峰净计数对应核素活度 乘以已知因子(测量时间、γ射线分支比和探测效率)。可见,全能峰净计数是γ能谱定量分析的关键,然而,全能峰区域的计数并非直接就是全能峰净 计数。这是因为,除去光电效应的贡献外,该区域还存在由γ射线发生康普 顿散射而造成的计数。这部分计数被称为基底。在实测的γ能谱中全能峰净 计数与基底计数叠加在一起,无法从总计数中进行区分。因此要获取全能峰 净计数,必须进行基底扣减。
目前,对于单峰情况,一般用直线或多项式拟合的方法进行基底计算, 而对于重峰区域,却没有专门的计算方法,通常仍然使用与单峰相同的方法。 然而,重峰区域的全能峰基底较单峰时复杂得多,使用通常的方法往往造成 基底估算结果与实际值差距很大,给全能峰净计数计算带来较大误差。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷,本发明的目的在于提供一种γ射线能谱中 重峰区域全能峰基底的计算方法及系统,可以降低γ能谱重峰区域全能峰基 底的计算误差,提高γ能谱定量分析准确性。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案如下:
一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法,包括:
S1、对γ射线能谱中重峰区域的每个全能峰,将每个全能峰的净计数部 分表示为高斯函数,将每个全能峰的的基底部分表示为余误差函数,将每个 全能峰表示为对应的高斯函数与对应的余误差函数之和;
S2、对所述重峰区域的能谱进行数据拟合,计算得到每个高斯函数和每 个余误差函数中的各待定参数值;
S3、根据每个高斯函数和每个余误差函数中的各待定参数值,计算得到 所述重峰区域的各道基底计数。
进一步,如上所述的一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法, 步骤S1包括:
如果所述重峰区域共有N个全能峰,则第i个全能峰表示为:
N个全能峰表示为:
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