[发明专利]一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法及系统在审

专利信息
申请号: 201910164716.8 申请日: 2019-03-05
公开(公告)号: CN110007334A 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 刘立业;赵日;肖运实;曹勤剑;汪屿;金成赫;赵原;夏三强;卫晓峰;潘红娟;李晓敦;刘一聪;熊万春 申请(专利权)人: 中国辐射防护研究院
主分类号: G01T1/36 分类号: G01T1/36;G01T1/40
代理公司: 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人: 田明;于春洋
地址: 030006 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 全能峰 峰区域 高斯函数 误差函数 射线能谱 基底 能谱 计算方法及系统 定量分析 计算误差 数据拟合 道基
【权利要求书】:

1.一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法,其特征在于,包括:

S1、对γ射线能谱中重峰区域的每个全能峰,将每个全能峰的净计数部分表示为高斯函数,将每个全能峰的的基底部分表示为余误差函数,将每个全能峰表示为对应的高斯函数与对应的余误差函数之和;

S2、对所述重峰区域的能谱进行数据拟合,计算得到每个高斯函数和每个余误差函数中的各待定参数值;

S3、根据每个高斯函数和每个余误差函数中的各待定参数值,计算得到所述重峰区域的各道基底计数。

2.根据权利要求1所述的一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法,其特征在于,步骤S1包括:

如果所述重峰区域共有N个全能峰,则第i个全能峰表示为:

N个全能峰表示为:

其中,表示第i个全能峰的净计数部分,Lierfc(wi(E-Ei))表示第i个全能峰的基底部分;Hi为高斯函数幅值,Li为余误差函数幅值,wi为高斯函数和余误差函数的宽度参数,Ei为高斯函数和余误差函数的中心位置,E是γ射线能谱上的数据点的横坐标;Hi、Li、wi、Ei(i=1,…,N)为待定参数;erfc为余误差函数;i、N为正整数。

3.根据权利要求2所述的一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法,其特征在于,步骤S2包括:

基于式(2),对所述重峰区域的能谱进行数据拟合,即求下式的最小值:

其中,yj为第j道实测计数,f(Ej)为第j个全能峰,M为所述重峰区域的总道数,即总数据点个数,j、M为正整数。

4.根据权利要求3所述的一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法,其特征在于,通过迭代算法求解式(3)的最小值,得到各待定参数Hi、Li、wi、Ei(i=1,…,N)的值。

5.根据权利要求4所述的一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算方法,其特征在于,步骤S3包括:

基于计算得到的Hi、Li、wi、Ei(i=1,…,N),通过下式计算得到所述重峰区域的各道基底计数B(Ej)为:

其中,余误差函数erfc表示为:

其中,x为自变量,在式(1)、(2)和(4)中x=wi(E-Ei);t为积分变量。

6.一种γ射线能谱中重峰区域全能峰基底的计算系统,其特征在于,包括:

表示模块,用于对γ射线能谱中重峰区域的每个全能峰,将每个全能峰的净计数部分表示为高斯函数,将每个全能峰的的基底部分表示为余误差函数,将每个全能峰表示为对应的高斯函数与对应的余误差函数之和;

数据拟合模块,用于对所述重峰区域的能谱进行数据拟合,计算得到每个高斯函数和每个余误差函数中的各待定参数值;

计算模块,用于根据每个高斯函数和每个余误差函数中的各待定参数值,计算得到所述重峰区域的各道基底计数。

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