[发明专利]基于抗性基因的外源质粒残留的检测试剂盒及其使用方法在审
| 申请号: | 201910155146.6 | 申请日: | 2019-03-01 | 
| 公开(公告)号: | CN111635899A | 公开(公告)日: | 2020-09-08 | 
| 发明(设计)人: | 郝方元;金华君;张喜艳;刘相岑;钱其军 | 申请(专利权)人: | 上海细胞治疗集团有限公司;上海细胞治疗研究院 | 
| 主分类号: | C12N15/11 | 分类号: | C12N15/11;C12Q1/6851 | 
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 韦东 | 
| 地址: | 200000 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 抗性 基因 质粒 残留 检测 试剂盒 及其 使用方法 | ||
1.引物对组合,其包含以下引物对中的引物对5和选自引物对1、2、3和4中的任意一个、两个、三个或四个:
引物对1,SEQ ID NO:1和SEQ ID NO:2所示的引物对;
引物对2,SEQ ID NO:3和SEQ ID NO:4所示的引物对;
引物对3,SEQ ID NO:5和SEQ ID NO:6所示的引物对;
引物对4,SEQ ID NO:7和SEQ ID NO:8所示的引物对;
引物对5,SEQ ID NO:10和SEQ ID NO:11所示的引物对。
2.探针或探针组合,其包含以下探针中的任意一个或两个:
探针A,其核酸序列如SEQ ID NO:13所示;和
探针B,其核酸序列如SEQ ID NO:12所示。
3.根据权利要求2所述的探针或探针组合,其中,所述探针的5’端标记有荧光报告基团,3’端标记有荧光淬灭基团;优选地,所述荧光报告基团选自FAM、Hex、VIC、ROX和Cy5;更优选地,所述荧光淬灭基团选自BHQ1、TAMRA、JOE、BHQ2和MGB。
4.根据权利要求2或3所述的探针或探针组合,其中,
探针A中的一个或多个位置的碱基被锁核酸修饰;探针B不被锁核酸修饰。
5.根据权利要求4所述的探针或探针组合,其中,
探针A的5’端起第4位和第7位中的任意1个或2个碱基被锁核酸修饰。
6.一种试剂盒,其包含权利要求1所述的引物对组合,和/或权利要求2至5中任一权利要求所述的探针或探针组合。
7.根据权利要求6所述的试剂盒,其特征在于,其还包含PCR反应所需的试剂,优选地,所述PCR反应所需的试剂选自Mg2+、反应缓冲液、dNTP和DNA聚合酶中的一种或多种。
8.一种测定CAR-T细胞治疗残留质粒拷贝数的方法,包括如下步骤:
(1)提取待测样品的DNA;
(2)使用含kana抗性基因的CAR质粒和含Actin基因的质粒作为标准品母液,分别制成kana抗性基因标准品系列和Actin标准品系列;
(3)使用权利要求1的引物对组合和/或权利要求2-5所述的探针或探针组合和/或权利要求6-7所述的试剂盒,分别对含kana抗性基因CAR质粒标准品系列、Actin标准品系列和待测样品的DNA进行实时荧光定量PCR;
(4)根据每个含kana抗性基因CAR质粒标准品系列产生的Ct值与对应拷贝数,含Actin标准品系列产生的Ct值与对应拷贝数,分别绘制标准曲线,获得计算公式;
(5)将待测样品的kana抗性基因和Actin基因的Ct值带入步骤(4)中的标准曲线的计算公式,获得待测样品的kana抗性基因拷贝数和Actin拷贝数;
优选地,步骤(1)中的待测样品为含kana抗性基因CAR质粒转导过的细胞;
优选地,步骤(2)中的梯度稀释为10倍梯度稀释;
优选地,步骤(3)中所述实时荧光定量PCR的扩增反应的条件为:94℃5min;94℃20s,60℃1min,共40个循环。
9.一种对CAR质粒残留量进行检测的方法,包括下述步骤:
A.测定kana抗性基因的拷贝数,
B.评估质粒残留量或与免疫治疗要求的残留外源基因拷贝数进行比较;
其中,步骤A中所述测定kana抗性基因拷贝数采用根据权利要求8所述的测定kana抗性基因拷贝数的方法;
优选地,所述CAR质粒含有kana抗性基因。
10.权利要求1所述的引物对组合和/或权利要求2至5中任一权利要求所述的探针或探针组合在制备用于测定CAR质粒拷贝数的试剂或制备用于对CAR质粒残留进行质量控制的试剂中的用途;
优选的,所述CAR质粒含有kana抗性基因。
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