[发明专利]一种X射线探测器及自动曝光监测方法有效
申请号: | 201910143820.9 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN109884089B | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 陈泽恒;马扬喜;林言成;黄翌敏 | 申请(专利权)人: | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01V5/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201201 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 探测器 自动 曝光 监测 方法 | ||
本发明提供一种X射线探测器及自动曝光监测方法,所述X射线探测器包括:光电探测单元,用于感应X射线,并在X射线曝光时通过光电转换产生曝光电荷并存储;自动曝光监测单元,连接于所述光电探测单元,用于采样流经所述光电探测单元的电流,以实现根据采样电流的变化对所述X射线探测器进行自动曝光监测。通过本发明解决了现有采用硅光电倍增管进行自动曝光监测时增加了X射线探测器的成本和易损坏性的问题。
技术领域
本发明属于探测器领域,特别是涉及一种X射线探测器及自动曝光监测方法。
背景技术
数字化X射线摄影(Digital Radiography,简称DR)是上世纪90年代发展起来的X射线摄影新技术,其以更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点成为数字X射线摄影技术的主导方向,并得到了世界各国的临床机构和影像学专家认可。DR的技术核心是平板探测器,平板探测器是一种精密且贵重的设备,对成像质量起着决定性的作用。平板探测器是DR系统中X射线的接收装置,在DR系统中,高压发生器和球管控制X射线的输出,X射线穿过物体并发生衰减,衰减后的X射线经过平板探测器后转变为可见光,并经过光电转换变为电信号,再经模拟/数字转换器(Analog/Digital Converter,简称ADC)变为数字信号,输入到计算机处理。
X射线平板探测器曝光有两种方式,一种是用高压发生器上的X射线开关信号控制平板探测器曝光;另一种是使用传感器和相关电路组成的自动曝光检测(AED)模块实时检测X射线,一旦检测到有X射线到来,便向平板探测器发送开始曝光信号,并在检测到没有X射线时,向平板探测器发送停止曝光信号。前者要求平板探测器必须和高压发生器连接,使用不方便,灵活性较差;后者和高压发生器之间没有电气连接,减少了安装、调试和维护的难度,同时,由于平板探测器与高压发生器相互独立,大大提高了其灵活性,扩展了其应用范围。
对于后者,AED模块的传感器一般为单个或者多个硅光电倍增管的并联,虽然通过硅光电倍增管能够检测X射线以实现自动曝光监测,但也因此增加了昂贵且易损的器件(硅光电倍增管),从而提高了X射线探测器的成本和易损坏性。鉴于此,有必要设计一种新的X射线探测器及自动曝光监测方法用以解决上述技术问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种X射线探测器及自动曝光监测方法,用于解决现有采用硅光电倍增管进行自动曝光监测时增加了X射线探测器的成本和易损坏性的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种X射线探测器,所述X射线探测器包括:
光电探测单元,用于感应X射线,并在X射线曝光时通过光电转换产生曝光电荷并存储;
自动曝光监测单元,连接于所述光电探测单元,用于采样流经所述光电探测单元的电流,以实现根据采样电流的变化对所述X射线探测器进行自动曝光监测。
可选地,所述光电探测单元包括若干呈阵列排布的光电探测器,所述光电探测器包括光电二极管及与所述光电二极管并联的电容;其中,各所述光电二极管的阳极端并联以接入一偏置电压,同时连接于所述自动曝光监测单元。
可选地,所述X射线探测器还包括与所述光电探测器一一对应的TFT开关管,其中,所述TFT开关管的源极端连接于所述光电二极管的阴极端,所述TFT开关管的漏极端通过数据线连接于列采集电路,所述TFT开关管的栅极端通过扫描线连接于行驱动电路。
可选地,所述自动曝光监测单元包括:
采样模块,连接于所述光电探测单元,用于采样流经所述光电探测单元的电流以输出;
放大模块,连接于所述采样模块,用于将所述采样电流转换为电压信号并放大,产生采样电压以输出;
比较处理模块,连接于所述放大模块,用于根据所述采样电压及基准电压对所述X射线探测器进行自动曝光监测。
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