[发明专利]一种X射线探测器及自动曝光监测方法

权利要求书

1.一种X射线探测器，其特征在于，所述X射线探测器包括：

光电探测单元，用于感应X射线，并在X射线曝光时通过光电转换产生曝光电荷并存储；所述光电探测单元包括若干呈阵列排布的光电探测器，所述光电探测器包括光电二极管及与所述光电二极管并联的电容，其中，各所述光电二极管的阳极端并联以接入一偏置电压，同时连接于自动曝光监测单元，在有X射线曝光时，所述光电二极管通过光电转换产生曝光电荷并存储在电容中，从而使得光电二极管和电容所在回路中的电流发生微弱变化；

TFT开关管，与所述光电探测器一一对应，所述TFT开关管的源极端连接于所述光电二极管的阴极端，所述TFT开关管的漏极端通过数据线连接于列采集电路，所述TFT开关管的栅极端通过扫描线连接于行驱动电路；

自动曝光监测单元，用于采样流经所述光电探测单元的电流，以实现根据采样电流的变化对所述X射线探测器进行自动曝光监测。

2.根据权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于，所述自动曝光监测单元包括：

采样模块，连接于所述光电探测单元，用于采样流经所述光电探测单元的电流以输出；

放大模块，连接于所述采样模块，用于将采样电流转换为电压信号并放大，产生采样电压以输出；

比较处理模块，连接于所述放大模块，用于根据所述采样电压及基准电压对所述X射线探测器进行自动曝光监测。

3.根据权利要求2所述的X射线探测器，其特征在于，所述采样模块包括采样电阻，其中所述采样电阻串联于所述光电探测单元。

4.根据权利要求2所述的X射线探测器，其特征在于，所述放大模块包括：

仪表放大器，连接于所述采样模块，用于将所述采样电流转换为电压信号并放大；

运算放大器，连接于所述仪表放大器，用于对放大后的所述电压信号进行二次放大以产生所述采样电压。

5.根据权利要求2所述的X射线探测器，其特征在于，所述比较处理模块包括比较器，用于比较所述采样电压和所述基准电压，并在所述采样电压大于所述基准电压时，判定所述X射线探测器存在X射线曝光。

6.根据权利要求2所述的X射线探测器，其特征在于，所述比较处理模块包括处理器，用于比较相邻两采样电压，并在后一采样电压与前一采样电压之差大于所述基准电压时，判定所述X射线探测器存在X射线曝光。

7.根据权利要求2所述的X射线探测器，其特征在于，所述比较处理模块包括处理器，用于对前N个所述采样电压求平均以获取所述基准电压，之后将第N+1个采样电压与所述基准电压进行比较，并在第N+1个采样电压大于所述基准电压时，判定所述X射线探测器存在X射线曝光；其中，N为大于1的整数。

8.根据权利要求7所述的X射线探测器，其特征在于，所述处理器还用于按照权利要求7的测定步骤重复M次以获取M个采样电压及M个基准电压，并在M个采样电压均大于其对应的基准电压时，判定所述X射线探测器存在X射线曝光；其中，M为大于1的整数。

9.一种利用如权利要求1至8任一项所述的X射线探测器实现的自动曝光监测方法，其特征在于，所述自动曝光监测方法包括：采样流经所述光电探测单元的电流，并根据采样电流的变化对所述X射线探测器进行自动曝光监测。

10.根据权利要求9所述的自动曝光监测方法，其特征在于，根据所述采样电流的变化对所述X射线探测器进行自动曝光监测的方法包括：

将所述采样电流转换为电压信号并放大以产生采样电压；

比较所述采样电压和基准电压，并在所述采样电压大于所述基准电压时，判定所述X射线探测器存在X射线曝光。