[发明专利]一种钛合金封装壳体的加工方法在审
| 申请号: | 201910134043.1 | 申请日: | 2019-02-22 |
| 公开(公告)号: | CN109848652A | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
| 发明(设计)人: | 钟永辉;方军;袁小意;丁小聪;史常东 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十三研究所 |
| 主分类号: | B23P15/00 | 分类号: | B23P15/00 |
| 代理公司: | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 金凯 |
| 地址: | 230088 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 加工 壳体 封装壳体 钛合金 粗铣 内腔 半成品 热处理 侧面 加工余量 对壳 精铣 铣削 预留 钛合金壳体 方形台阶 后热处理 圆形台阶 批量化 体内腔 合格率 保证 | ||
本发明公开了一种钛合金封装壳体的加工方法,包括铣外形且外形预留加工余量,得到壳体半成品;对壳体半成品进行粗铣加工,得到粗铣内腔的半成品,且内腔内预留加工余量;将粗铣内腔的半成品进行热处理;在热处理后的壳体的第一侧面铣削出阵列圆形台阶孔;在热处理后的壳体的第二侧面铣削出方形台阶孔,所述第二侧面与第一侧面相对;对壳体内腔及外形精铣加工,完成钛合金封装壳体的加工。将钛合金壳体粗铣内腔后热处理,最终精铣壳体,保证壳体的加工精度和表面质量,适合批量化加工,降低加工成本,提升钛合金封装壳体的加工合格率。
技术领域
本发明属于微波器件封装领域,具体涉及一种钛合金封装壳体的加工方法。
背景技术
T/R组件是一种重要的微波器件,在高集成度、轻量化的军用电子器件发展背景下,T/R组件用封装壳体的结构变得复杂(如薄璧结构、小孔结构)。为了避免T/R组件内部器件间的信号干扰,封装壳体内腔设置了金属隔筋用于电磁屏蔽,同时在壳体的侧边预留有相关的圆形台阶孔、方形台阶孔用于后续组装相关的高低频连接器,以便传输电磁信号。在高集成度、轻量化的发展背景下,封装壳体的结构尺寸精度要求越来越严,部分尺寸精度要求在0.03mm,为了保证器件内部电路的贴装,壳体的平面度要求0.05mm以内。因此,封装壳体的加工精度与T/R组件的可装配性及后续使用性能直接相关。封装壳体主要从低密度材料的选用、薄壁化结构设计两个角度来匹配在电子元器件高集成度、轻量化的发展趋势。
TC4钛合金作为一种轻质材料,其密度为4.5g/cm3,仅为钢的58%,强度却是钢的3.5倍,因此,钛合金的密度低强度高,特别适合作为T/R组件用封装壳体的主体材料,以实现封装壳体的复杂腔体的薄壁化、轻量化。
但TC4钛合金是一种典型的难加工材料,钛合金的导热系数低(热导率15.2W/(m·K))、加工硬化严重、化学活性高,导致钛合金加工困难,加工成形的壳体表面质量差。在封装壳体的传统机械加工中,壳体是直接使用铣刀进行铣削精密加工成型,然后通过后续检验筛选出满足尺寸公差及外观的合格封装壳体,但钛合金与钢、可伐等传统封装材料不同,按照常规封装壳体的机械加工容易粘刀,同时对钛合金原材料进行大切削量加工时(材料的去除率大于80%),加工成形的钛合金封装壳体内部残余大量的加工应力,应力释放将导致壳体变形翘曲,使得壳体加工的表面质量差、且加工变形严重,尺寸精度难以保证,封装壳体的加工合格率低,从而制约了钛合金封装壳体的批量化加工及应用。
发明内容
基于此,本发明提供了一种钛合金封装壳体的加工方法,包括以下步骤:铣外形、粗铣内腔、热处理、铣圆形台阶孔、铣方形台阶孔、精铣壳体,完成钛合金封装壳体的加工。将钛合金壳体粗铣内腔后热处理,最终精铣壳体,保证壳体的加工精度和表面质量,适合批量化加工,降低加工成本,提升钛合金封装壳体的加工合格率。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种钛合金封装壳体的加工方法,包括以下步骤:
a、铣外形:对壳体顶面、底面及四周进行铣削,外形预留加工余量,得到壳体半成品;
b、粗铣内腔:对所述壳体半成品进行粗铣加工,得到粗铣内腔的半成品,且内腔内预留加工余量;在内腔内预留加工余量,便于进行后续的精密加工,本发明中优选加工余量为0.4~0.8mm的加工余量,便于控制成品的尺寸精度。
c、热处理:将所述粗铣内腔的半成品进行热处理;
d、铣圆形台阶孔:在热处理后的壳体的第一侧面铣削出阵列圆形台阶孔;
e、铣方形台阶孔:在热处理后的壳体的第二侧面铣削出方形台阶孔,所述第二侧面与第一侧面相对;
f、精铣壳体:对将步骤e处理后的壳体内腔及外形精铣加工,完成钛合金封装壳体的加工。
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