[发明专利]光学测量池、光学分析仪和光学测量池的制造方法在审
申请号: | 201910133464.2 | 申请日: | 2019-02-22 |
公开(公告)号: | CN110231290A | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | 中原达也;世古朋子 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场先进技术 |
主分类号: | G01N21/05 | 分类号: | G01N21/05;G01N21/03;G01N21/09;G01N21/59 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 周善来;李雪春 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透光构件 光学测量 按压构件 覆盖膜 光透射区域 光学分析仪 密封构件 射入 压光 检测液体 试样接触 光射出 射出 收容 制造 剥离 覆盖 | ||
1.一种光学测量池,其包括夹着收容被检测液体的内部空间的第一透光构件和第二透光构件,构成为射入所述第一透光构件的光通过所述内部空间并从所述第二透光构件射出,
所述光学测量池的特征在于,
所述光学测量池还包括:
第一按压构件,在所述第一透光构件的朝向光射入侧的向外的面上按压所述光透过的光透射区域的周围;
第二按压构件,在所述第二透光构件的朝向光射出侧的向外的面上按压所述光透过的光透射区域的周围;以及
密封构件,介于所述第一透光构件和所述第一按压构件之间、以及所述第二透光构件和所述第二按压构件之间,
在所述第一透光构件和所述第二透光构件的表面的除了一部分以外的区域上覆盖有覆盖膜,所述覆盖膜的端部位于比所述密封构件更靠所述光透射区域侧。
2.根据权利要求1所述的光学测量池,其特征在于,所述覆盖膜覆盖在至少除了所述光透射区域以外的区域上。
3.根据权利要求1所述的光学测量池,其特征在于,所述覆盖膜是在所述第一透光构件和所述第二透光构件的表面未通过底涂层形成的氟系树脂覆盖膜。
4.根据权利要求1所述的光学测量池,其特征在于,底涂层介于所述第一透光构件和所述第二透光构件的表面的与所述光透射区域不同的区域和所述覆盖膜之间。
5.根据权利要求1所述的光学测量池,其特征在于,
所述光学测量池还包括间隔件,所述间隔件介于所述第一透光构件和所述第二透光构件之间,与所述第一透光构件和所述第二透光构件一起形成所述内部空间,
所述间隔件与所述第一透光构件和所述第二透光构件中的至少一方一体地设置。
6.一种光学分析仪,其特征在于,
所述光学分析仪具有:
权利要求1所述的光学测量池;
光照射部,对所述光学测量池照射光;以及
光检测部,检测透过了所述光学测量池的光。
7.一种光学测量池的制造方法,所述光学测量池包括:第一透光构件和第二透光构件,夹着收容被检测液体的内部空间;第一按压构件,在所述第一透光构件的朝向光射入侧的向外的面上按压所述光透过的光透射区域的周围;第二按压构件,在所述第二透光构件的朝向光射出侧的向外的面上按压所述光透过的光透射区域的周围;以及密封构件,介于所述第一透光构件和所述第一按压构件之间、以及所述第二透光构件和所述第二按压构件之间,
所述光学测量池的制造方法的特征在于,
在所述第一透光构件和所述第二透光构件的表面的除了一部分以外的区域上覆盖覆盖膜,使所述覆盖膜的端部位于比所述密封构件更靠所述光透射区域侧。
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